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论有限回溯测试模式产生方法
1
作者
曾芷德
曹贺锋
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第11期102-105,共4页
本文首先剖析了有限回溯测试模式产生 (FBTPG)方法的实质 ,然后在深入分析三种ATPG系统的C B曲线的实验数据的基础上 ,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应 ,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据 .最后以ISCAS 85和ISCAS 89电路为基础 ...
本文首先剖析了有限回溯测试模式产生 (FBTPG)方法的实质 ,然后在深入分析三种ATPG系统的C B曲线的实验数据的基础上 ,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应 ,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据 .最后以ISCAS 85和ISCAS 89电路为基础 ,给出了FBTPG与随机测试生成、确定性测试生成和商用ATPG系统FlexTest的实验比较结果 。
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关键词
有限回溯
测试
模式产生
确定性测试生成
故障模拟
下载PDF
职称材料
可测试性设计技术
2
作者
蒋敬旗
《中国集成电路》
2002年第8期41-46,共6页
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
关键词
可
测试
性设计技术
时序电路
故障模型
自动
测试
设备
确定性测试生成
物理故障
内建自
测试
集成电路
设计与开发
功耗优化
下载PDF
职称材料
题名
论有限回溯测试模式产生方法
1
作者
曾芷德
曹贺锋
机构
国防科技大学计算机学院
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第11期102-105,共4页
基金
国家自然科学基金! (No .697730 35)
文摘
本文首先剖析了有限回溯测试模式产生 (FBTPG)方法的实质 ,然后在深入分析三种ATPG系统的C B曲线的实验数据的基础上 ,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应 ,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据 .最后以ISCAS 85和ISCAS 89电路为基础 ,给出了FBTPG与随机测试生成、确定性测试生成和商用ATPG系统FlexTest的实验比较结果 。
关键词
有限回溯
测试
模式产生
确定性测试生成
故障模拟
Keywords
finite backtracking test pattern generation
deterministic test generation
fault simulation
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
可测试性设计技术
2
作者
蒋敬旗
机构
中国科学院计算技术研究所
出处
《中国集成电路》
2002年第8期41-46,共6页
文摘
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
关键词
可
测试
性设计技术
时序电路
故障模型
自动
测试
设备
确定性测试生成
物理故障
内建自
测试
集成电路
设计与开发
功耗优化
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
论有限回溯测试模式产生方法
曾芷德
曹贺锋
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
0
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职称材料
2
可测试性设计技术
蒋敬旗
《中国集成电路》
2002
0
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职称材料
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0
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参考文献
引证文献
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