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论有限回溯测试模式产生方法
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作者 曾芷德 曹贺锋 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第11期102-105,共4页
本文首先剖析了有限回溯测试模式产生 (FBTPG)方法的实质 ,然后在深入分析三种ATPG系统的C B曲线的实验数据的基础上 ,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应 ,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据 .最后以ISCAS 85和ISCAS 89电路为基础 ... 本文首先剖析了有限回溯测试模式产生 (FBTPG)方法的实质 ,然后在深入分析三种ATPG系统的C B曲线的实验数据的基础上 ,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应 ,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据 .最后以ISCAS 85和ISCAS 89电路为基础 ,给出了FBTPG与随机测试生成、确定性测试生成和商用ATPG系统FlexTest的实验比较结果 。 展开更多
关键词 有限回溯测试模式产生 确定性测试生成 故障模拟
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可测试性设计技术
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作者 蒋敬旗 《中国集成电路》 2002年第8期41-46,共6页
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
关键词 测试性设计技术 时序电路 故障模型 自动测试设备 确定性测试生成 物理故障 内建自测试 集成电路 设计与开发 功耗优化
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