应用向量划分的低功耗确定性BIST方法

提出一种能够与LFSR重播种技术结合的确定性向量生成方法,该方法利用扫描向量中的切片重叠来同时减少确定位数目和跳变数目,可大大降低测试功耗和测试存储.在硬件结构中,用一个译码器来生成控制信号.实验结果表明,对于ISCAS89基准电路,采用文中方法能够减少80%左右的跳变,而只需要原始Mintest测试集25%左右的测试数据存储.

用于跳变故障测试的确定性逻辑内建自测试方法

BIST由于支持全速测试而成为延迟故障测试中引人关注的技术。确定性逻辑BIST(DLBIST)已成功应用于固定故障的测试中。由于DF的随机可测试性低于固定故障,故需要对DLBIST方法进行修改。DF测试需要测试向量对,因而与SAF相比,需要更多的映射与逻辑开销。本文针对广泛应用的所谓跳变故障模型,提出了用于跳变故障测试的DLBIST扩展方法,使用FJ产生向量对。实验结果表明,使用本文方法可以获得较高的故障测试效率。