不确定因果理论诊断的测试

对不确定因果理论的诊断测试进行探索 ,将初始测试条件从 true推广到任意可满足的A,提出对不确定前提条件测试的概念 ,给出几个相关定理及其证明 ,利用这些结果有助于判定诊断空间 ,确定测试的优先序 。

逻辑内建自测试技术进展综述

逻辑内建自测试(logic buit-in self-test,LBIST)是一种可测试性设计技术,利用芯片、板级或系统上的部分电路测试数字逻辑电路本身。LBIST对于许多应用来说至关重要,尤其是国防、航空航天、自动驾驶等生命和任务关键型的应用。这些应用需要执行片上、板上或系统内自检,以提高整个系统的可靠性及执行远程诊断的能力。该文首先给出了常用的LBIST分类,并描述了经典的,也是工业界应用最成功的LBIST架构——使用多输入特征寄存器和并行移位序列产生器的自测试架构;其次,对国内外研究团队、研究进展进行了总结;再次,详细剖析了LBIST的基本原理、时序控制、确定性自测试设计、低功耗设计、“X”容忍等关键技术点,列举出了主流的LBIST商业工具,并逐一分析了其软件架构和技术特点;最后,讨论当前LBIST技术仍需进一步解决的问题,并进行展望。

生成确定性测试图形的内建自测试方法

为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.

测试不确定条件下基于贝叶斯网络的装备测试优化选择技术

针对装备诊断与测试实际过程中普遍存在的不确定性问题,通过引入测试不确定概率,建立基于贝叶斯网络的测试性分析模型。在此基础上获取测试不确定条件下的故障-测试相关性矩阵,经贝叶斯推理计算测试性指标参数,建立测试项目集优化模型,并利用混合二进制粒子群-遗传算法进行求解。案例验证表明,该分析与计算过程由于考虑了测试不确定性,使得结果与实际情况更加吻合,与传统的确定性优化方法相比具有更高可信度。

基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性 。

基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案

大规模高密度的集成电路在测试中面临着测试数据量大、测试时间长和测试功耗高的问题.为此提出了一种基于随机访问扫描(random access scan,RAS)的混合模式测试体系结构,该测试方法先通过自动测试模式生成一个确定测试集,再将确定测试集嵌入片上生成的测试序列中进行确定性测试.测试分两个阶段进行,第一阶段利用块固定折叠计数器生成的具有块固定特征的测试模式序列,测试电路中的大部分故障;第二阶段,通过位跳变方法生成确定测试模式,测试剩余的难测故障.在ISCAS-89基准电路上的实验结果表明,该方案不仅减少了测试存储量和测试时间,而且有效地降低了测试功耗.

基于确定性测试图形的BIST构建方法

为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS’85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点。

确定性测试矢量生成的低功耗设计

在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器,并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理,使确定性测试矢量间插入了单一跳变的测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,表明该设计不仅提高了故障覆盖率,缩短了测试时间,而且能有效降低电路的总功耗、平均功耗和峰值功耗。

CAT(计算机辅助测试)技术 第四讲 测试确定性

1 前言测试的目的,在于得出某些确定的结论。可分为两类: ①定性的判决。一般是两元判决,如被检测产品的合格或不合格,监控装置报警或不报警。也可以是多元判决,如产品经检测分为优质品、合格品、次品、废品,选配时工件经测量后分为若干组。②定量的估值。如通过测试求产品的某个参数值,测量工件的几何参数等。定性判决也可以抽象为离散量的估值。

代价敏感不确定决策树的不确定单批测试算法研究

不确定数据(uncertain data)广泛存在于现实世界的各个领域.研究界开始逐渐重视不确定数据的研究.目前,针对不确定数据的代价敏感决策树(CSDTU)的研究中只能进行简单测试,其过多的测试造成很大的代价浪费.本文扩展确定数据上代价敏感决策树的单批测试算法,将其应用到代价敏感不确定决策树(CSDTU).通过不确定数据模型中属性值的概率势(ProbabilityCardinality)计算树属性选择过程中的代价,实现了不确定单批测试算法.在UCI数据集上的实验表明,不确定单批测试优于简单测试,可以有效的降低测试的总代价,提升分类器效果,具有很好的合理性和实用性.

时域衰减信号的复合材料叶片阻尼不确定性测试

基于复合材料叶片的时域衰减信号,对其阻尼的不确定性进行测试研究。首先,组建复合材料叶片的阻尼测试系统,提出具体的阻尼不确定性测试流程,并通过"标准差"指标来量化表征某一阶阻尼的不确定性程度;然后,以三种不同类型的TC500碳纤维/树脂基复合材料直板叶片为研究对象,通过测试获取其在不同衰减时刻的阻尼结果,并证明其阻尼确实存在不确定性现象;最后,讨论激励幅度、边界条件、背景噪声对复合材料叶片某一阶阻尼不确定性的影响程度和影响规律,并提出采用线性平均法来准确获得其阻尼结果。

宽带矢量网络测试的TRM校准方法不确定度分析

宽带网络测试是获取微波毫米波器件电学特性的重要手段,而TRM校准方法被广泛应用于宽带网络测试系统的校准中。为了有效地评估测试数据的准确性,需要对TRM校准与测试进行误差不确定度度分析。对基于8项误差的在片测试的小信号校准与误差修正原理进行了阐述,以此为基础推到了TRM校准方法的不确定度传播公式,能够有效地评估各项校准件的非理想性对校准结果的影响。通过采用参数已知的传输线作为非理想直通校准件进行验证实验。实验结果表明,不确定度传播公式能够准确地评估测试数据的误差,最大差值不超过0.02 dB。

测试不确定度比与测量结果可信度的关系以及实践中的要求

本文对"测试不确定度比"的内涵以及它与测量结果可信度之间的关系进行了探讨。测试不确定度比是定量描述测量标准或检测设备的准确度超过被校件或被测件的程度的术语 ,在给定的技术指标分布和置信区间的情况下 ,它是影响测量结果可信度的决定性因素。本文还介绍了军事计量保障中使用的相关术语和定义、对测试不确定度比的要求以及国内外标准有关要求的异同 ,同时给出了实践中TUR不能满足要求时的警戒段对策。

代价敏感不确定贝叶斯分类器的单批测试算法

提出了一种针对不确定数据的贝叶斯代价敏感分类器算法SBT-CSUNB用来进行单批测试。SBT-CSUNB算法在代价敏感贝叶斯分类器的框架上定义了不确定数据属性对总代价的影响,提出了单批算法的最优属性集合的选择方式。在UCI数据集上的实验表明:SBTCSUNB有效地降低了总代价,并且在不同的参数设定下表现平稳,甚至在高不确定率的情况下算法仍旧表现良好。

基于不确定性的并发正确性测试方法的改进

多线程执行过程中的不确定性和异步性,导致测试并发程序的正确性相当困难.基于不确定测试方法上,提出了一个改进的并发程序正确性测试方法.通过激化并发程序的资源竞争来发现潜在的并发错误,从而测试并发程序的正确性.实验结果表明,使用该测试方法可以更加精确地发现并发程序产生的错误并有效地提高并发正确性测试的效率.

耐电压测试仪不确定度标准影响分析

本文主要就耐电压测试仪的不确定度影响进行简单的分析.

光继电保护测试仪测量结果不确定度评估

光继电保护测试仪的质量好坏直接影响光继电保护装置的安全稳定运行,而国内对其检测的经验尚浅。该文主要是介绍了光继电保护测试仪在检测过程中受到的影响,做出准确的不确定度分析,以供参考。

评定测试结果不确定度的两种方法之比较分析

检测实验室中测试结果的不确定度是对测试结果可靠性的度量,本文以铁矿石中铁含量的检测为例,分别通过灵敏系数法和相对标准不确定度法进行测试结果的不确定度分析,并加以比较,以期为相关检测实验室提供参考。

基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计

提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,而没有改变原来的测试矢量,因而故障覆盖率不会改变,这样既保证了高故障覆盖率又解决不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余。研究结果表明该方案不仅具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。

使用双重种子压缩的混合模式自测试

提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计 ,简单而具有柔性 ,并且多个逻辑芯核可以共享 实验结果表明 ,这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储 。