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使用双重种子压缩的混合模式自测试
被引量:
38
1
作者
梁华国
蒋翠云
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2004年第1期214-220,共7页
提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完...
提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计 ,简单而具有柔性 ,并且多个逻辑芯核可以共享 实验结果表明 ,这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储 。
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关键词
内建
自测试
确定的内建自测试
存储与生成方案
测试
数据压缩
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职称材料
题名
使用双重种子压缩的混合模式自测试
被引量:
38
1
作者
梁华国
蒋翠云
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学信息与计算科学系
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2004年第1期214-220,共7页
基金
德国国家基金项目 (Wu2 45 /2 4)
文摘
提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计 ,简单而具有柔性 ,并且多个逻辑芯核可以共享 实验结果表明 ,这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储 。
关键词
内建
自测试
确定的内建自测试
存储与生成方案
测试
数据压缩
Keywords
BIST
deterministic BIST
store and generate schemes
test data compression
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
使用双重种子压缩的混合模式自测试
梁华国
蒋翠云
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2004
38
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