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ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素
被引量:
6
1
作者
张桂广
马立奎
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2000年第1期95-96,97,共3页
本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd 等13 个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。
关键词
碲
锭
杂质元素
ICP-AES
发射光谱法
碲基体干扰
下载PDF
职称材料
题名
ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素
被引量:
6
1
作者
张桂广
马立奎
机构
韶关出入境检验检疫局
核工业华南地质研究院
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2000年第1期95-96,97,共3页
文摘
本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd 等13 个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。
关键词
碲
锭
杂质元素
ICP-AES
发射光谱法
碲基体干扰
Keywords
Tellurium Ingot,Impurity Element,ICP AES.
分类号
O657.31 [理学—分析化学]
O651 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素
张桂广
马立奎
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2000
6
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