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ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素 被引量:6
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作者 张桂广 马立奎 《光谱实验室》 CAS CSCD 2000年第1期95-96,97,共3页
本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd 等13 个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。
关键词 杂质元素 ICP-AES 发射光谱法 碲基体干扰
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