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光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法
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作者 朱全庆 谭立国 +3 位作者 李震 李佐宜 蔡长波 邱进军 《磁记录材料》 1999年第3期8-9,34,共3页
采用FFT方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦,得到各单层薄膜在耦合状态下的特性,并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能。
关键词 磁光双层耦合膜 强计 调制 解耦 特性
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