某型Hall磁敏元件的可靠性分析

某型磁敏元件寿命试验样本量很大，很难应用可靠性试验用表与Weibull分布基于最佳线性不变估计（BLIE），最佳线性无偏估计（BLUE）枢轴量的数表，本文基于Bayes方法、Blom近似等，对产品进行了拟合优度检验、分布鉴别与可靠性评定。