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高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究
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作者 潘清 庄泽南 +1 位作者 张晓清 王霄军 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2010年第36期82-84,132,共4页
阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。
关键词 可靠性测试 平均无数据丢失时间(MTTDL) 磁盘读出错率
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