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高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究
1
作者
潘清
庄泽南
+1 位作者
张晓清
王霄军
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010年第36期82-84,132,共4页
阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。
关键词
可靠性测试
平均无数据丢失时间(MTTDL)
磁盘读出错率
下载PDF
职称材料
题名
高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究
1
作者
潘清
庄泽南
张晓清
王霄军
机构
装备指挥技术学院信息装备系
装备指挥技术学院研究生院
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010年第36期82-84,132,共4页
基金
国家高技术研究发展计划(863)(No.2009AA01A405)~~
文摘
阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。
关键词
可靠性测试
平均无数据丢失时间(MTTDL)
磁盘读出错率
Keywords
reliability test
Mean Time To Data Loss(MTTDL)
Bit Error Rate(BER)
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究
潘清
庄泽南
张晓清
王霄军
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010
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