螺旋型爆磁压缩装置的磁通损耗

首先根据在螺旋型爆磁压缩装置实验中获得的微分，积分电流波形，对引起磁通损耗的各种因素进行了细致的分析，得出装置的磁通损耗与装置某些几何参数的关系及其在微分，积分电流波形上的反映；然后从ＭＦＣＧ电路方程及Ｍｉｎｔｓｅｖ磁通损耗系数模型出发，用实验测得的微分，积分电流数据，对每一测量点处的装置初级，次级磁通损耗系数ａ１，ａ２进行了计算。

爆磁压缩发生器的耦合损耗因子研究

小型爆磁压缩发生器击穿、跳匝、接触磁通损失及电阻损耗现象难以避免,其中磁通损耗和电阻损耗对未知结构发生器的影响不是线性的,使得发生器的运行结果难以预测。以一种解耦的爆磁压缩发生器运行模型为研究对象,提出了磁通损耗项和电阻损耗项的耦合损耗因子解析式,并给出了明确的物理意义。与实验数据对比表明:考虑了上述损耗因子的模型可以预测未知结构发生器的运行结果且与实验结果吻合较好。

一种解耦的爆磁压缩发生器运行损耗模型

研究螺旋型爆磁压缩发生器的损耗机理,建立了一种磁通损耗项和电阻损耗项解耦表示的爆磁压缩发生器运行模型,并给出了物理意义明确的损耗项解析式;经实验验证,对于损耗机理更为复杂的紧凑型级联爆磁压缩发生器,本模型仿真结果与实验结果仍符合良好,仿真波形与实验波形总体趋势一致,螺距变化的节点处过度清晰,定子均绕段的波形相似度较高.

一种应用于双向DC/DC变换器的新型耦合电感的设计

本文提出的"I王I"形耦合电感器通过增加磁路气隙的数量,使磁路的磁压分布更加均匀,与传统铁心电感器相比显著减小了磁路的电磁损耗、电磁干扰和线圈的涡流损耗,且增大了窗口面积。通过分析耦合电感器的磁通分布,建立磁路模型,给出了耦合电感器的设计方法,并对所提出的耦合电感器进行仿真,结合双向DC/DC变换器的实验验证了"I王I"形耦合电感器结构的可行性。

双相纳米晶Nd_2Fe_(14)B/α-Fe磁体的热稳定性研究

采用快淬法制备出成分为Nd8.5Fe75Co5Cu1 Zr3Nb1 B6 .5和Nd8.5Fe74 Co5Cu1 Nb1 Zr3Cr1 B6 .5的双相纳米晶永磁材料 ,加入粘结剂后制成粘结磁体 ,研究了其磁性的热稳定性和抗氧化性能。结果发现 ,两种双相纳米晶磁体都具有较好的抗氧化性能 ,且在一定温度处理后磁通损耗较少 ,其中加入合金元素Cr后效果尤为明显。

8—5型MFCG数值模拟及参数选择

依据两级ＭＦＣＧ计算程序，对Ｆ－５型ＭＦＣＧ进行了数值模拟，通过计算结果与实验结果的比较，修正了程序中涉及的重要经验参数－磁通损耗系数α。用修正的程序模拟计算新设计的８－５型ＭＦＣＧ，这对ＭＦＣＧ参数选择有重要意义。