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“禁戒光”近场光学显微镜原理与系统
被引量:
2
1
作者
王佳
刘秀梅
李达成
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997年第5期21-25,29,共6页
扫描近场光学显微术是80年代后期发展起来的一种分辨率超过衍射极限的新型光学显微镜技术。本文介绍了国外最近出现的“禁戒光”近场光学显微镜系统的工作原理及结构。透射式SNOM中部分光沿着光轴向前传播;部分光沿着大于全内反...
扫描近场光学显微术是80年代后期发展起来的一种分辨率超过衍射极限的新型光学显微镜技术。本文介绍了国外最近出现的“禁戒光”近场光学显微镜系统的工作原理及结构。透射式SNOM中部分光沿着光轴向前传播;部分光沿着大于全内反射临界角的方向传播。前者称为允许光;后者称为禁戒光。应用“禁戒光”近场光学显微镜可同时获得三幅图像,即允许光像、禁戒光像和反映样品表面形貌的剪切力图像。禁戒光图像能够提供很好的对比度和分辨率。
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关键词
近场
光
学显微镜
禁戒光
允许
光
显微镜
SNOM
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职称材料
题名
“禁戒光”近场光学显微镜原理与系统
被引量:
2
1
作者
王佳
刘秀梅
李达成
机构
清华大学精密仪器系
出处
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997年第5期21-25,29,共6页
文摘
扫描近场光学显微术是80年代后期发展起来的一种分辨率超过衍射极限的新型光学显微镜技术。本文介绍了国外最近出现的“禁戒光”近场光学显微镜系统的工作原理及结构。透射式SNOM中部分光沿着光轴向前传播;部分光沿着大于全内反射临界角的方向传播。前者称为允许光;后者称为禁戒光。应用“禁戒光”近场光学显微镜可同时获得三幅图像,即允许光像、禁戒光像和反映样品表面形貌的剪切力图像。禁戒光图像能够提供很好的对比度和分辨率。
关键词
近场
光
学显微镜
禁戒光
允许
光
显微镜
SNOM
Keywords
scanning near field optical microscopy, SNOM, forbidden light, allowed light, FL SNOM, PSTM, evanescent waves
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
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作者
出处
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1
“禁戒光”近场光学显微镜原理与系统
王佳
刘秀梅
李达成
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997
2
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