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反应离化团束沉积技术及其在薄膜制备中的应用
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作者 王琼 张观明 《半导体杂志》 1998年第2期43-48,共6页
反应离化团束沉积技术是在离化团束沉积技术基础上加入了反应材料。本文讨论了簇团的产生、离化、加速,成膜的机制,及其在薄膜制备中的应用。
关键词 R-ICBD 离化团束沉积 薄膜 制备
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离化团束沉积中的分子动力学模拟 被引量:2
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作者 张豪 夏宗宁 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期83-87,共5页
离化团束沉积是一种可在室温条件下获得高质量薄膜甚至单晶膜的沉积方法。本文对这种沉积方法的原理、装置及主要应用做了简要的介绍。由于沉积过程还存在大量未解决的问题,所以分子动力学模拟逐渐成为研究它们的有力手段。作者考察了... 离化团束沉积是一种可在室温条件下获得高质量薄膜甚至单晶膜的沉积方法。本文对这种沉积方法的原理、装置及主要应用做了简要的介绍。由于沉积过程还存在大量未解决的问题,所以分子动力学模拟逐渐成为研究它们的有力手段。作者考察了近年来分子动力学模拟在这一领域的应用,着重介绍和讨论了模型的建立、势能及参数的选择,模拟存在的问题及今后工作的重点。 展开更多
关键词 离化团束沉积 薄膜 分子动力学模拟
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C_(60)薄膜的离化团簇束沉积及离子掺杂
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作者 傅德君 雷园园 +3 位作者 李金钗 叶明生 彭友贵 范湘军 《武汉大学学报(自然科学版)》 CSCD 1998年第3期347-350,共4页
用离化团簇束(ICB)沉积法在石英玻璃和云母衬底上形成了C60薄膜,XRD测试表明膜呈多晶结构,原位电阻测试表明膜的室温电阻率超过104Ωcm,具有负的电阻温度系数.用80keVP+,BBr3+,Ar+和He+对C6... 用离化团簇束(ICB)沉积法在石英玻璃和云母衬底上形成了C60薄膜,XRD测试表明膜呈多晶结构,原位电阻测试表明膜的室温电阻率超过104Ωcm,具有负的电阻温度系数.用80keVP+,BBr3+,Ar+和He+对C60膜作剂量范围为0~1016cm-2的离子注入,C60膜的电阻率随注入剂量增加而急剧下降,磷注入具有n型掺杂作用,离子与C60分子的相互作用导致C60分子分裂,引起薄膜表面非晶化. 展开更多
关键词 离化沉积 离子注入 原位测试 碳60 薄膜
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薄膜材料与器件
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《中国光学》 EI CAS 2000年第1期71-72,共2页
O484.1 2000010458激光辅助化学气相沉积金刚石薄膜实验研究=Synthesisof diamond films by laser-assistedchemical vapour deposition[刊,中]/任德明,胡孝勇,刘逢梅,赵景山,王楠楠,马祖光(哈尔滨工业大学光电子技术研究所.黑龙江,哈... O484.1 2000010458激光辅助化学气相沉积金刚石薄膜实验研究=Synthesisof diamond films by laser-assistedchemical vapour deposition[刊,中]/任德明,胡孝勇,刘逢梅,赵景山,王楠楠,马祖光(哈尔滨工业大学光电子技术研究所.黑龙江,哈尔滨(150001))//光电子·激光.—1998,9(6).—446-449采用激光辅助化学气相沉积法合成了厚度为15μm的金刚石薄膜。实验结果表明:以丙酮为碳源气体,并用XeCl(308 nm)准分子激光解离,H<sub>2</sub>用灯丝进行预先解离,适当选择和控制各种实验参数,可获得高质量的金刚石薄膜。还讨论了衬底温度以及灯丝温度等实验参数对薄膜生长速率与薄膜质量的影响。图9表1参8(郑锦玉)O484.2 2000010459离化团束沉积中的分子动力学模拟=Molecular dynamicssimulation in ionized clusterbeams deposition[刊,中]/张豪,夏宗宁(清华大学材料科学与工程系.北京(100084))//人工晶体学报.—1998,27(4). 展开更多
关键词 学气相沉积金刚石薄膜 分子动力学模拟 薄膜材料 学气相沉积 激光辅助 人工晶体 离化团束沉积 实验参数 实验研究 激光解离
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Si基的RICBD法生长GaN薄膜 被引量:2
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作者 蔡先体 黄启俊 +3 位作者 黄浩 孟宪权 郭怀喜 范湘军 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2001年第1期26-30,共5页
讨论了反应离化团簇束沉积 (RICBD)方法的原理和特点 ,利用改进的双气流方式和ZnO缓冲层技术在Si衬底上生长GaN薄膜 ,并用XPS、XRD和PL对样品进行了测试分析 ,证实形成了良好的GaN薄膜。
关键词 反应离化沉积 钙薄膜 硅基
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离子-C_(60)相互作用及其对C_(60)/Si异质结光电特性的影响
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作者 雷园园 傅德君 +3 位作者 李金钗 郭怀喜 叶明生 范湘军 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第1期49-54,共6页
用离化团簇束(ICB)沉积法制备了C60薄膜。XRD测试表明,膜呈多晶结构;原位电阻测试表明,膜的室温电阻率超过103Ωcm,具有负的电阻温度系数。用80keVp+,BBr3+,Ar+和He+对C60膜作剂量范围为0... 用离化团簇束(ICB)沉积法制备了C60薄膜。XRD测试表明,膜呈多晶结构;原位电阻测试表明,膜的室温电阻率超过103Ωcm,具有负的电阻温度系数。用80keVp+,BBr3+,Ar+和He+对C60膜作剂量范围为0—1016cm-2的离子注入,C60膜的电阻率随注入剂量的增加而下降,p+注入使膜呈n型电导,离子与C60团簇的相互作用导致C60分裂,并使膜表面非晶化。在沉积过程中溅射掺Al得到p型C60膜。C60/Si样品具有明显的异质结特性,光照对结特性有明显响应。 展开更多
关键词 离化沉积 光电性质 碳60/硅 异质结
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