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磁控溅射工艺参数对氧化钛薄膜晶体结构的影响
被引量:
1
1
作者
徐禄祥
冷永祥
黄楠
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期3143-3145,共3页
用非平衡磁控溅射技术制备氧化钛薄膜.研究了基体偏压、沉积温度、基体性质及溅射功率对薄膜晶体结构的影响.结果表明,到达基体的粒子的能量和离子/原子比是影响氧化钛薄膜晶体结构的主要因素;而到达基体的离子/原子比是生成完全金红石...
用非平衡磁控溅射技术制备氧化钛薄膜.研究了基体偏压、沉积温度、基体性质及溅射功率对薄膜晶体结构的影响.结果表明,到达基体的粒子的能量和离子/原子比是影响氧化钛薄膜晶体结构的主要因素;而到达基体的离子/原子比是生成完全金红石结构氧化钛薄膜的决定性因素.
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关键词
氧化钛薄膜
非平衡磁控溅射
晶体结构
离子/原子到达比
下载PDF
职称材料
题名
磁控溅射工艺参数对氧化钛薄膜晶体结构的影响
被引量:
1
1
作者
徐禄祥
冷永祥
黄楠
机构
西南交通大学
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期3143-3145,共3页
文摘
用非平衡磁控溅射技术制备氧化钛薄膜.研究了基体偏压、沉积温度、基体性质及溅射功率对薄膜晶体结构的影响.结果表明,到达基体的粒子的能量和离子/原子比是影响氧化钛薄膜晶体结构的主要因素;而到达基体的离子/原子比是生成完全金红石结构氧化钛薄膜的决定性因素.
关键词
氧化钛薄膜
非平衡磁控溅射
晶体结构
离子/原子到达比
分类号
TN304.21 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
磁控溅射工艺参数对氧化钛薄膜晶体结构的影响
徐禄祥
冷永祥
黄楠
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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职称材料
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