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Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter
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作者 WangYu－Gang AckermannJ 等 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 1997年第3期160-162,共3页
ＩｎｆｌｕｅｎｃｅｏｆｓｃａｎｎｉｎｇｆｏｒｃｅｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅｌｏａｄｉｎｇｆｏｒｃｅｏｎｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｏｆｉｏｎｔｒａｃｋｄｉａｍｅｔｅｒＷａｎｇＹｕＧａｎｇ，ＺｈａｏＷｅｉＪｉａｎｇ（Ｉｎｓｔｉｔｕ... ＩｎｆｌｕｅｎｃｅｏｆｓｃａｎｎｉｎｇｆｏｒｃｅｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅｌｏａｄｉｎｇｆｏｒｃｅｏｎｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｏｆｉｏｎｔｒａｃｋｄｉａｍｅｔｅｒＷａｎｇＹｕＧａｎｇ，ＺｈａｏＷｅｉＪｉａｎｇ（ＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＨｅａｖｙＩｏｎＰ... 展开更多
关键词 重离子 离子径迹直径测量 扫描显微镜
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