干涉粒子成像技术可测粒径上限分析

从实验上研究了干涉粒子成像技术(IPI)的最大可测粒子尺寸.分析了同一视场中不同物面导致的物距变化对IPI最大可测粒径的影响.搭建了单光束照射的IPI实验系统,对粒子直径为51μm和110 μm的聚苯乙烯混合粒子场进行测量,分析了同一视场内不同采集区域的最大可测粒径.实验结果表明,IPI技术最大可测粒径受实验系统物距影响,对于一固定参数的实验系统,同一视场内不同采集区域的最大可测粒径不同.