X射线衍射法测定纳米晶纯铝的平均晶粒尺寸

对放电等离子烧结制备的纳米晶纯铝样品进行了X射线衍射分析,并以完全退火的硅粉末作为标准样品来分离仪器宽化,提出了物理宽化后通过'积分宽度法'计算纳米晶纯铝平均晶粒尺寸的方法。结果表明:试验纯铝样品的平均晶粒尺寸为73.7nm,达到了纳米量级。

纳米粒子晶格畸变率的数量级研究

晶格畸变率是纳米柱子的一个重要参数。用X射线衍射积分宽度法确定了纳米CeO_2粒子的晶格畸变率,研究了晶格畸变与晶粒度之间的关系,结合已有资料讨论了纳米粒子晶格畸变率的数量级大小。结果表明,不合理的计算方法可能会导致计算出来的晶格畸变值严重失实。

纳米粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变的同时测定

本文使用积分宽度法同时确定了纳米CeO_2粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变率,讨论了使用X射线衍射数据同时计算纳米粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变的方法,以及应用Gaussian/Cauchy型方程进行数据处理的具体细节。研究结果说明,当计算纳米微晶的晶格畸变时,现有的一些简单计算方法可能使计算出来的晶格畸变值严重失实。