用线性逼近法标定在核电厂工作的硼酸密度仪

7828音叉式密度变送器由MOBREY公司生产,用于在线测量稳定工况下介质的密度。实际应用中,绝大部分的工况为复杂的、非稳定的工况,密度变送器测量值与介质实际密度差别很大,无法满足工程测量要求。本文通过使用分段线性逼近法,标定在复杂工况下7828音叉式密度仪,并在田湾核电站一回路冷却剂蒸馏系统中取得较好的应用效果,对核电工程的其他系统,在复杂工况下准确地运用7828密度仪,具有良好的指导意义。

线性和非线性寄存器系统的并行化技术

并行化技术可降低电路工作速率、延时和功耗 ,广泛应用于通信处理中 .对线性寄存器系统 ,通过对系统状态方程和输出方程的讨论提出一般性的 (1,N)并行化方法 ,其对任意并行路数N均有统一计算方法 ;并对某些情况下的 (M ,N)并行提出一种新实现方法 .对非线性寄存器系统 ,给出其定义 ,对其状态转移进行线性化 ,提出线性化矩阵法的并行方法 ;并对其特例———非线性移位寄存器的并行化提出推广延时因子法 .

延迟m序列线性组合的递推算法

在建立延迟ｍ序列产生器的电路模型的基础上，把延迟ｍ序列由ｍ序列产生器某些寄存器级模２和而成的组合问题映射为互反序列产生器的状态，推导出互反序列产生器状态的递推式。

解非线性方程的“区间一点迭代法”

对于求解非线性方程f(x)=0 (1)已形成许多方法。本文只叙述如何用区间一点迭代法求(1)的实根(后文所及也均指实根),至于求虚根将另文叙述。

一种嵌入式存储器内建自测试电路设计

随着存储器在芯片中变得越来越重要和半导体工艺到了深亚微米(deep-sub-micron,DSM)时代,对存储器的故障测试变得非常重要,存储器内建自测试(memory built—in self—test,MBIST)是一种有效测试嵌入式存储器的方法;给出了一种基于LFSR的存储器内建自测试电路设计,采用LFSR设计的地址生成器的面积开销相当小,从而大大降低了整个测试电路的硬件开销;16×32b SRAM内建自测试电路设计实验验证了此方法的可行性,与传统的方法相比,它具有面积开销小、工作速度快和故障覆盖率高等优点。

嵌入式存储器自修复电路的设计与仿真

介绍了一种存储器自修复电路的仿真设计，其中内建自测试模块中的地址生成器采用LFSR设计，它面积开销相当小，从而大大降低了整个测试电路的硬件开销。而内建自修复模块采用基于一维冗余（冗余行块）结构的修复策略设计。通过16×32比特SRAM自修复电路设计实验验证了此方法的可行性。

基于查表法的CRC算法实现与优化

基于数据传输系统带宽越来越大,数据传输过程中发生错误的概率也越来越高,设计用于检错和纠错的校验码产生模块是非常必要的。完成一种可配置的并行CRC运算模块的设计,数据长度和CRC运算版本皆可进行配置,在一个时钟周期内即可并行计算得到CRC校验结果。首先通过线性反馈移位寄存器实现了串行CRC计算模块,然后结合查表法多次例化串行CRC计算模块、并将上次运算结果作为本次运算的初值实现了可并行运算的CRC校验码计算模块。

基于图像传感器的仪表自动读数系统

基于图像传感器的仪表自动读数是现代测量的发展趋势。利用机器视觉和图像处理技术,设计了一种机器视觉与图像传感器测量相结合的自动读数测量系统。利用LED漫反射光源的特性设计测量用光,有效削弱仪表表面的强镜面反射,取得光照较均匀的图像;利用移位寄存式线性逼近法从刻线群中识别出对准刻线;利用特征窗平移法提取字符特征实现了快速字符识别。实验表明:系统的测量准确性比用传统的测量方法提高了1倍,而且操作便捷,测量效率高。

制导激光伪随机编码的最小周期识别技术研究

为了有效、快速识别敌方制导激光的编码码型,为我方的干扰准备提供更长时间,通过对有限位伪随机码的原理和码型进行分析,提出了一种针对有限位伪随机码的最小周期识别方法,在求解最小整数比时,通过更相减损法,提高了运算效率。进行仿真验证,结果表明,该方法能有效的识别出有限位伪随机码的最小周期,当接收脉冲信号个数为4时,识别概率已经接近或者超过95%,且识别概率与移位寄存器的位数没有关系,验证了该方法的有效性。