期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
稀氮 Ⅲ-Ⅴ族InAsN和InSbN中长波红外光电材料与器件
1
作者
邱锋
胡淑红
+5 位作者
孙常鸿
吕英飞
王奇伟
孙艳
邓惠勇
戴宁
《红外》
CAS
2012年第2期1-7,共7页
将少量氮原子加入Ⅲ—Ⅴ族半导体后可引起能带减小,因此这种方法可以用来实现能带结构裁剪。这种新型稀氮化物显示出了奇特的物理性质,并且具有应用于新型光电器件的潜力。特别是,备受关注的稀氮InAsN和InSbN在中长波红外光电材料上具...
将少量氮原子加入Ⅲ—Ⅴ族半导体后可引起能带减小,因此这种方法可以用来实现能带结构裁剪。这种新型稀氮化物显示出了奇特的物理性质,并且具有应用于新型光电器件的潜力。特别是,备受关注的稀氮InAsN和InSbN在中长波红外光电材料上具有巨大的应用价值,并将在中长波红外器件应用领域发挥重要的作用。
展开更多
关键词
稀
氮
Ⅲ-Ⅴ族
半导体
InAsN
InSbN
中长波红外器件
下载PDF
职称材料
GaAs(001)衬底上分子束外延生长InNSb单晶薄膜
被引量:
3
2
作者
张燕辉
陈平平
+1 位作者
李天信
殷豪
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第11期8026-8030,共5页
利用射频氮等离子辅助分子束外延(RF-MBE)技术在GaAs(001)衬底上生长稀氮InNSb半导体薄膜,并通过原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和拉曼散射光谱等测量手段对样品的微结构和N组分等进行了表征.结果显示样品...
利用射频氮等离子辅助分子束外延(RF-MBE)技术在GaAs(001)衬底上生长稀氮InNSb半导体薄膜,并通过原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和拉曼散射光谱等测量手段对样品的微结构和N组分等进行了表征.结果显示样品有较好的晶体质量,N组分可高达0.84%(XRD的结果).本文还对样品的输运性质进行了表征,结果显示样品在室温下具有较低的载流子浓度和较高的迁移率.另外,初步研究表明在InSb中掺入N可导致其室温磁阻明显下降.
展开更多
关键词
分子束外延
稀氮半导体
X射线衍射
拉曼光谱
原文传递
题名
稀氮 Ⅲ-Ⅴ族InAsN和InSbN中长波红外光电材料与器件
1
作者
邱锋
胡淑红
孙常鸿
吕英飞
王奇伟
孙艳
邓惠勇
戴宁
机构
中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室
出处
《红外》
CAS
2012年第2期1-7,共7页
基金
国家重点基础研究"973"计划项目(2011CBA00900
2012CB93430
+3 种基金
2010CB93370)
国家自然科学基金项目(10804117)
上海市创新专项基金项目(11DZ1140500)
中国科学院知识创新工程项目(KGCX2-YW-350)
文摘
将少量氮原子加入Ⅲ—Ⅴ族半导体后可引起能带减小,因此这种方法可以用来实现能带结构裁剪。这种新型稀氮化物显示出了奇特的物理性质,并且具有应用于新型光电器件的潜力。特别是,备受关注的稀氮InAsN和InSbN在中长波红外光电材料上具有巨大的应用价值,并将在中长波红外器件应用领域发挥重要的作用。
关键词
稀
氮
Ⅲ-Ⅴ族
半导体
InAsN
InSbN
中长波红外器件
Keywords
dilute nitride Ⅲ-Ⅴsemiconductor
InAsN
InSbN
medium-long wave infrared photoelectric device
分类号
TN213 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
GaAs(001)衬底上分子束外延生长InNSb单晶薄膜
被引量:
3
2
作者
张燕辉
陈平平
李天信
殷豪
机构
中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第11期8026-8030,共5页
基金
国家自然科学基金(批准号:60876059)
上海市基础研究重点项目(批准号:08JC1421000)
上海市重大基础研究项目(批准号:09DJ1400101)资助的课题~~
文摘
利用射频氮等离子辅助分子束外延(RF-MBE)技术在GaAs(001)衬底上生长稀氮InNSb半导体薄膜,并通过原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和拉曼散射光谱等测量手段对样品的微结构和N组分等进行了表征.结果显示样品有较好的晶体质量,N组分可高达0.84%(XRD的结果).本文还对样品的输运性质进行了表征,结果显示样品在室温下具有较低的载流子浓度和较高的迁移率.另外,初步研究表明在InSb中掺入N可导致其室温磁阻明显下降.
关键词
分子束外延
稀氮半导体
X射线衍射
拉曼光谱
Keywords
molecular beam epitaxy
dilute nitrogen semiconductor
X-ray diffraction
Raman spectroscopy
分类号
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
稀氮 Ⅲ-Ⅴ族InAsN和InSbN中长波红外光电材料与器件
邱锋
胡淑红
孙常鸿
吕英飞
王奇伟
孙艳
邓惠勇
戴宁
《红外》
CAS
2012
0
下载PDF
职称材料
2
GaAs(001)衬底上分子束外延生长InNSb单晶薄膜
张燕辉
陈平平
李天信
殷豪
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
3
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部