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新型数字IC测试仪的设计
被引量:
2
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作者
余波
李维
吴兆耀
《成都师范学院学报》
2013年第7期122-124,共3页
在测试74LS系列IC的过程中,为解决插拔被测IC时测试插座带电的问题,设计了一种由两片单片机组成、上位机为下位机程控供电的新型数字IC测试仪,该测试仪实现了插拔被测IC时测试插座完全断电,并具有时钟和温度显示等辅助功能。
关键词
IC
测试仪
单片机
程控供电
损坏
下载PDF
职称材料
题名
新型数字IC测试仪的设计
被引量:
2
1
作者
余波
李维
吴兆耀
机构
成都师范学院物理与电子技术系
出处
《成都师范学院学报》
2013年第7期122-124,共3页
基金
四川教育学院2011年院级重点项目(项目编号CJYKT11-03)
文摘
在测试74LS系列IC的过程中,为解决插拔被测IC时测试插座带电的问题,设计了一种由两片单片机组成、上位机为下位机程控供电的新型数字IC测试仪,该测试仪实现了插拔被测IC时测试插座完全断电,并具有时钟和温度显示等辅助功能。
关键词
IC
测试仪
单片机
程控供电
损坏
Keywords
tester
single - chip microcomputer
programmable power supply
damage
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
发文年
被引量
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1
新型数字IC测试仪的设计
余波
李维
吴兆耀
《成都师范学院学报》
2013
2
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