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新型数字IC测试仪的设计 被引量:2
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作者 余波 李维 吴兆耀 《成都师范学院学报》 2013年第7期122-124,共3页
在测试74LS系列IC的过程中,为解决插拔被测IC时测试插座带电的问题,设计了一种由两片单片机组成、上位机为下位机程控供电的新型数字IC测试仪,该测试仪实现了插拔被测IC时测试插座完全断电,并具有时钟和温度显示等辅助功能。
关键词 IC 测试仪 单片机 程控供电 损坏
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