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稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论 被引量：1
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作者 沈建琪 王乃宁 《上海理工大学学报》 CAS 1998年第2期130-134,共5页
在经典Ｍｉｅ散射理论基础上，讨论全方位稳态光散射法激光测粒仪测量粒径的下限及其影响因素，认为通过减小激光测粒仪的系统误差和增大探测的散射角范围，可降低测粒仪的测量下限．
关键词 激光测粒仪 稳态光散射 测量下限 全方位测量
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