电路穷尽测试的线性反馈移位寄存器系列

本文介绍了在Ｇａｌｏｉｓ域ＧＦ（２）上线性反馈移位寄存器的链接原理，并给出了一种高级数的线性反馈移位寄存器如何由低级数线性反馈移位寄存器构成的方法，以满足对具有不同输入端数目电路测试的要求。初步的实验结果表明，从８至２４级的线性反馈移位寄存器都可以由１至７级的线性反馈移位寄存器链接构成。

用线性码构造伪穷尽测试集

在本文中，我们给出了一种用线性码构造伪穷尽测试集的测试码生成方法。这种方法在减小测试时间方面较以往的方法又进了一步。实验结果表明这种方法是完全可取的。

用一个初始状态生成伪穷尽测试集

本文给出了一种适合于级敏扫描方法（ＬＳＳＤ）的伪穷尽测试集生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路，使得只需要一个初始状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点，消除了必须在ＲＯＭ中存储多个初始状态的要求，从而简化了测试控制电路及测试过程。

基于统一无穷理论的软件测试可穷尽性研究

传统认为只要继续测试,总能发现新的软件缺陷,这使软件测试可信失去了理论基础。针对软件测试可穷尽性开展理论研究,将讨论范围从有穷领域扩展到无穷领域。首先从最新的实无穷理论研究成果统一无穷理论入手,得出了利用有限开销来判断无穷过程可信性的基本方法,从软件特征定义入手,形式化定义了软件测试用例集合,得出了软件特征与测试用例/软件缺陷之间的对应关系;基于统一实无穷理论研究成果和统一数学归纳法,讨论了软件测试版本持续演化过程中,测试用例集合可穷尽性与软件测试质量的关系,回答了当测试用例集合是一个无穷集合时,软件测试该如何开展软件测试是否能穷尽的理论问题,并剖析测试可穷尽性的旧有认识。该文研究成果初步回答了困扰软件测试理论界多年的软件测试可穷尽性问题,为软件测试可信性研究奠定了坚实的理论基础。

征兆测试新方法

征兆测试和奇偶测试是已经使用多年的基于穷尽输入的固定型故障测试方法。在征兆测试与奇偶测试相结合的基础上,提出了一种新的征兆测试方法,即三阶征兆测试法。本方法的特点在于提高测试效率的同时也提高了征兆测试的故障覆盖率,使得原来征兆不可测的电路也可以进行征兆测试。其主要思想是在传统征兆测试的基础上首先引进奇偶测试,对被测电路进行预处理,提高测试效率;然后,对征兆测试作进一步升华处理,成为二阶、三阶征兆测试,提高测试的故障覆盖率。通过对部分基准电路和常用电路的测试实验验证了所提新方法的实用性和有效性。