颗粒测量系统公司(Particle Measuring systems Inc.)生产的AiM监测器可以对沉积于SiO2表面的空气分子沾污(AMC)进行实时监测,所获得的数据对于了解洁净室内的工艺过程与产生AMC间的相互关系特别有用。通过监测吸附物总量的长期变化趋势...颗粒测量系统公司(Particle Measuring systems Inc.)生产的AiM监测器可以对沉积于SiO2表面的空气分子沾污(AMC)进行实时监测,所获得的数据对于了解洁净室内的工艺过程与产生AMC间的相互关系特别有用。通过监测吸附物总量的长期变化趋势,可以确定洁净室内环境沾污的基本值,以及有利于对新污染源的早期确认。展开更多
文摘颗粒测量系统公司(Particle Measuring systems Inc.)生产的AiM监测器可以对沉积于SiO2表面的空气分子沾污(AMC)进行实时监测,所获得的数据对于了解洁净室内的工艺过程与产生AMC间的相互关系特别有用。通过监测吸附物总量的长期变化趋势,可以确定洁净室内环境沾污的基本值,以及有利于对新污染源的早期确认。