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用高分辨工业X—CT检测陶瓷样品
1
作者
彭亚辉
张朝宗
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第Z10期379-381,共3页
清华大学核能技术设计研究院自80年代中开始到80年代中的十年来建成了三个微焦点X-CT系统。本文介绍了采用闪烁体-光电二级管阵列高分辩探测器的CT系统硬件结构和图像重建中的“拆线近似法”技术,给出了用该系统检测若干陶...
清华大学核能技术设计研究院自80年代中开始到80年代中的十年来建成了三个微焦点X-CT系统。本文介绍了采用闪烁体-光电二级管阵列高分辩探测器的CT系统硬件结构和图像重建中的“拆线近似法”技术,给出了用该系统检测若干陶瓷样品的结果。
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关键词
陶瓷
检验
拆线近似技术
X-CT系统
空间分辩能力
下载PDF
职称材料
题名
用高分辨工业X—CT检测陶瓷样品
1
作者
彭亚辉
张朝宗
机构
清华大学核能技术设计研究院
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第Z10期379-381,共3页
文摘
清华大学核能技术设计研究院自80年代中开始到80年代中的十年来建成了三个微焦点X-CT系统。本文介绍了采用闪烁体-光电二级管阵列高分辩探测器的CT系统硬件结构和图像重建中的“拆线近似法”技术,给出了用该系统检测若干陶瓷样品的结果。
关键词
陶瓷
检验
拆线近似技术
X-CT系统
空间分辩能力
分类号
TQ174.66 [化学工程—陶瓷工业]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用高分辨工业X—CT检测陶瓷样品
彭亚辉
张朝宗
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
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