质子辐照空间级硅橡胶的正电子淹没寿命谱研究

用正电子淹没寿命谱方法 (PAL S)研究了质子辐照对空间级硅橡胶 KH- L - Y微观结构的影响。试验结果表明 ,PAL S谱所揭示的最长寿命成分的 τ3 ,I3 及自由体积分数 Vf 随辐照剂量的增加开始明显下降 ;而当辐照剂量大于 10 1 5cm- 2 后 ,随剂量的增加平缓上升。辐照剂量小于 10 1 5cm- 2 时 ,质子辐照使硅橡胶自由体积减小 ,分子链间堆砌紧密 ;辐照剂量大于 10 1 5cm- 2时 ,质子辐照使硅橡胶自由体积增大。交联密度及 DMA测试结果同样表明 ,质子辐照在剂量较小时硅橡胶的交联密度及玻璃化转变温度增加 ,辐照以交联效应为主 ;而剂量较大时辐照降解占优势。

空间级硅橡胶涂层抗原子氧性能及评价机制

文中针对硅橡胶与原子氧的反应机理尚未完全掌握,其防护效果未完全明确的现状,开展原子氧效应地面模拟试验,进行硅橡胶涂层的抗原子氧性能的评价分析。经对试验前后的样品进行外观、质量损失、表观形貌、表面成分及光学性能的测试,系统评价了空间级硅橡胶的原子氧防护效果。在分别接受累积通量为4.9×1018 cm-2和1.2×1021 cm-2的原子氧暴露试验后,空间级硅橡胶涂层的质量损失并未随原子氧暴露时间延长和累计通量的增加而变大,但涂层表面的外观和光学性能发生了显著变化,经扫描电镜检测,涂层表面出现不同程度的开裂,经X射线光电子能谱仪分析,涂层表面生成了一层类似SiO2的薄膜,该薄膜层能阻止原子氧与硅橡胶涂层的反应从而对基底材料形成保护,但为了进一步提高其抗原子氧侵蚀能力,需对涂层进行补强改性,并且采用测量质量损失的手段来评判硅橡胶类材料受原子氧侵蚀程度的方法不甚科学。