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题名新一代层叠封装(PoP)的发展趋势及翘曲控制
被引量:5
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作者
林伟
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机构
安靠封装测试
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出处
《中国集成电路》
2014年第3期46-52,共7页
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文摘
便携式移动设备是当今半导体集成电路行业的主要发展动力。其对封装的挑战,除电性能的提高外,还强调了小型化和薄型化。层叠封装(PoP)新的趋势,包括芯片尺寸增大、倒装技术应用、超薄化等,进一步增加了控制封装翘曲的难度。超薄封装的翘曲大小及方向与芯片尺寸、基板和塑封层厚度,以及材料特性密切相关。传统的通用封装方案已不再适用,需要根据芯片设计及应用,对封装设计、材料等因素加以优化,才能满足翘曲控制要求。另外,基板变薄后,来自不同供应商的基板可能出现不同的封装翘曲反应,需要加强对基板设计公差及供应链的管控。
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关键词
层叠封装
穿塑孔
裸芯片穿塑孔
翘曲
热膨胀系数
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Keywords
PoP
Through Mold Via ( TMV )
Exposed-die TMV
Warpage
CTE
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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