水稻种子接触静电对播种落地偏移量影响的试验与研究

在100 mm、150 mm、200 mm距地高度下,分别测量水稻种子在接触静电和未接触静电情况时,种子通过接触式静电试验装置后的落地偏移量。将三组对照试验的数据进行统计分析,试验结果表明：水稻种子接触带电后,种子落地偏移量明显减小;随种子距地高度的不断增加,种子落地偏移量也会变大;静电电压为17k V时,种子落地偏移量可比对照组平均减小5-9 mm。