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用SACP技术分析立方晶系金属中晶粒位向的一种方法 被引量:1
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作者 廖乾初 朱衍勇 《电子显微学报》 CAS CSCD 1995年第3期202-209,共8页
SACP分析技术是分析多晶材料中晶粒位向的一种有效方法。应用SACP技术,本文发展了一种确定立方晶系金属中晶粒位向的新方法。此方法的优点是:可以直接从给定SACP的几何特征确定晶粒位向,而不需象通常方法那样,要对给定... SACP分析技术是分析多晶材料中晶粒位向的一种有效方法。应用SACP技术,本文发展了一种确定立方晶系金属中晶粒位向的新方法。此方法的优点是:可以直接从给定SACP的几何特征确定晶粒位向,而不需象通常方法那样,要对给定SACP进行结晶学注释和有关矢量运算。 展开更多
关键词 选区电子通道技术 立方晶系金属 几何特征 位向分析
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