期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
端接配体原子的电负性对磁耦合作用的影响 被引量:2
1
作者 胡海泉 陈志达 刘成卜 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1794-1797,共4页
应用微扰理论 ,分析了端接配体原子的电负性对体系磁耦合作用的影响 .研究表明 ,随着端接配体原子电负性的增大 ,磁中心间的耦合作用减弱 .应用密度泛函理论和对称性破损方法对双核铜 (Ⅱ )模型体系进行了计算 。
关键词 端接配体原子 电负性 磁耦合 密度泛函 对称性破损近似 微扰理论 分子基铁磁体 双核铜配合物
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部