第4届多光谱影像处理和模式识别国际研讨会

由武汉大学测绘遥感信息工程国家重点实验室主办的“第4届多光谱影像处理和模式识别国际研讨会”于2005年10月31日至11月2日在武汉召开，来自美国、英国、荷兰、瑞士、奥地利、意大利、埃及、日本、沙特阿拉伯、中国及中国香港等十余个国家和地区的200多名专家学者参加了会议与会专家对多光谱影像处理和模式识别技术的现状及未来的发展趋势进行了深入的探讨，会议议题包括多光谱影像的获取和处理，影像分析技术，模式识别和计算机视觉，SAR影像分析、建模和应用虚拟地理环境下的遥感影像，数据挖掘和知识发现，空间信息标准遥感和地理信息系统在资源、环境和城市规划方面的应用等。