期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
电极结构对硅薄膜生长过程及材料特性的影响 被引量:4
1
作者 侯国付 郭群超 +4 位作者 任慧志 张晓丹 薛俊明 赵颖 耿新华 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第7期1353-1358,共6页
在制备硅薄膜材料的PECVD系统中,分别采用普通平行板电极和网状电极,在相同的工艺条件下研究了电极结构对硅薄膜材料均匀性、电学性能以及微结构的影响.发现采用网状电极使薄膜(400~500nm)均匀性得到明显改善,在20cm×20cm内不均... 在制备硅薄膜材料的PECVD系统中,分别采用普通平行板电极和网状电极,在相同的工艺条件下研究了电极结构对硅薄膜材料均匀性、电学性能以及微结构的影响.发现采用网状电极使薄膜(400~500nm)均匀性得到明显改善,在20cm×20cm内不均匀性从±12.6%下降到±2.1%.等离子体发光光谱的测试表明,网状电极可大大提高硅烷的利用率,因而在相同工艺条件下,生长微晶硅材料需要更高的功率密度.文中对实验结果进行了详细的讨论. 展开更多
关键词 网状电极 硅薄膜 均匀性 等离子体的发光光谱
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部