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电极结构对硅薄膜生长过程及材料特性的影响
被引量:
4
1
作者
侯国付
郭群超
+4 位作者
任慧志
张晓丹
薛俊明
赵颖
耿新华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第7期1353-1358,共6页
在制备硅薄膜材料的PECVD系统中,分别采用普通平行板电极和网状电极,在相同的工艺条件下研究了电极结构对硅薄膜材料均匀性、电学性能以及微结构的影响.发现采用网状电极使薄膜(400~500nm)均匀性得到明显改善,在20cm×20cm内不均...
在制备硅薄膜材料的PECVD系统中,分别采用普通平行板电极和网状电极,在相同的工艺条件下研究了电极结构对硅薄膜材料均匀性、电学性能以及微结构的影响.发现采用网状电极使薄膜(400~500nm)均匀性得到明显改善,在20cm×20cm内不均匀性从±12.6%下降到±2.1%.等离子体发光光谱的测试表明,网状电极可大大提高硅烷的利用率,因而在相同工艺条件下,生长微晶硅材料需要更高的功率密度.文中对实验结果进行了详细的讨论.
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关键词
网状电极
硅薄膜
均匀性
等离子体的发光光谱
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职称材料
题名
电极结构对硅薄膜生长过程及材料特性的影响
被引量:
4
1
作者
侯国付
郭群超
任慧志
张晓丹
薛俊明
赵颖
耿新华
机构
南开大学光电子薄膜器件与技术研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第7期1353-1358,共6页
基金
国家重点基础研究发展规划(批准号:G2000028202
G2000028203)
+1 种基金
教育部(批准号:02167)
天津市科委(批准号:043186511)资助项目~~
文摘
在制备硅薄膜材料的PECVD系统中,分别采用普通平行板电极和网状电极,在相同的工艺条件下研究了电极结构对硅薄膜材料均匀性、电学性能以及微结构的影响.发现采用网状电极使薄膜(400~500nm)均匀性得到明显改善,在20cm×20cm内不均匀性从±12.6%下降到±2.1%.等离子体发光光谱的测试表明,网状电极可大大提高硅烷的利用率,因而在相同工艺条件下,生长微晶硅材料需要更高的功率密度.文中对实验结果进行了详细的讨论.
关键词
网状电极
硅薄膜
均匀性
等离子体的发光光谱
Keywords
showerhead electrode
silicon films
uniformity
optical emission spectroscopy
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
电极结构对硅薄膜生长过程及材料特性的影响
侯国付
郭群超
任慧志
张晓丹
薛俊明
赵颖
耿新华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
4
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职称材料
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参考文献
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