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厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰 被引量:2
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作者 侯翠群 《集成电路通讯》 2006年第1期35-38,共4页
介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。
关键词 厚膜混合集成电路 失效分析 失效机理 缺陷产品 筛选淘汰机制
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