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厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰
被引量:
2
1
作者
侯翠群
《集成电路通讯》
2006年第1期35-38,共4页
介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。
关键词
厚膜混合集成电路
失效分析
失效机理
缺陷产品
筛选淘汰机制
下载PDF
职称材料
题名
厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰
被引量:
2
1
作者
侯翠群
机构
中国兵器工业第
出处
《集成电路通讯》
2006年第1期35-38,共4页
文摘
介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。
关键词
厚膜混合集成电路
失效分析
失效机理
缺陷产品
筛选淘汰机制
分类号
TN452 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰
侯翠群
《集成电路通讯》
2006
2
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