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基于SONOS型嵌入式flash存储器的扰动失效测试算法研究
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作者 乌勒 刘武 洪亮 《微电子学与计算机》 2021年第5期7-13,共7页
目前flash扰动失效测试算法无法检测SONOS型flash存储器的全部扰动失效,特别是对读扰动失效检测的失效覆盖率低,且测试效率不高.针对这一问题,本文对March-FT测试算法进行扩展和优化,提出了一种用于检测SONOS型flash存储器的扰动失效测... 目前flash扰动失效测试算法无法检测SONOS型flash存储器的全部扰动失效,特别是对读扰动失效检测的失效覆盖率低,且测试效率不高.针对这一问题,本文对March-FT测试算法进行扩展和优化,提出了一种用于检测SONOS型flash存储器的扰动失效测试算法——March-SONOS.结合算法评估系统验证,March-SONOS测试算法可检测SONOS型flash存储器的全部扰动失效,且失效覆盖率达到100%,同时算法测试效率提高55.97%. 展开更多
关键词 SONOS 扰动失效模型 March-SONOS算法 算法评估系统
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