高分辨粉末衍射仪数据采集系统研制

介绍了中国先进研究堆(CARR)旁高分辨粉末衍射仪数据采集系统的整体设计和硬件组成,阐述了各单元电路的结构和设计。加载输入信号对电路进行了调试,测试了电路的各项性能,测试结果满足设计要求。从探测器、前置放大器、主放大器、甄别器、计数卡到计算机的整个系统,实现了对信号的获取、放大、滤波成形、甄别、定标计数和存储全过程,多达65路的数据采集系统已研制成功。

基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究

研究了提高X射线衍射强度的方法,将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包括SDD探测器、单道脉冲分析器和计数电路等部分。测试结果表明,探测记录系统能量分辨率高,可以省去石墨单色器,与常规配备石墨单色器+闪烁/正比探测器的衍射仪相比,衍射强度可提高三到四倍。同时,此探测记录系统可排除样品中荧光元素的干扰,且可用于阵列探测器"阵列"效应失效的测试(如极图、In-Plane分析等)。新系统可提升薄膜材料和凝聚态微纳结构分析的水平。

高分辨中子粉末衍射仪主体装置设计

介绍了高分辨中子粉末衍射仪主体装置的设计及分析,针对整机精度要求高的特点,详细介绍了支撑平台单元、样品台单元、探测器运载单元各部件的设计及分析过程,采用了气浮支撑技术和气浮搬运技术,完成了定位准确、样品夹持灵活、结构紧凑的工程样机。

溶液结构的X射线衍射研究──4.用粉末衍射仪精确测定溶液结构的新方法

本文叙述了用θ—2θ型X射线衍射仪精确测定电解质溶液结构的新的实验技术，设计制作了具有恒温功能的超厚液体样品池，并建立了样品池窗口强度的校正方法。建立在Johansson和Yamaguchi工作基础上，发展了液体X射线衍射数据处理和结构参数精细化的计算机程序，获得了非常令人满意的实验结果。由θ－2θ型X射线衍射仪精确测定的径向分布函数与θ－θ型衍射自由表面散射比较，表明DRF分辩率有所提高。

θ-2θ型粉末衍射仪研究溶液水合结构新进展

介绍了近年来研究开发的０－２０型粉末衍射仪研究溶液结构的实验测量方法，衍射强度数据处理技术，以及多原子离子水溶液体系水合结构研究的最新进展。叙述了定性解释液体衍射强度曲线和结构曲线黄金规则的经验公式。

新型X射线粉末衍射仪高级功能应用研究

本文介绍了德国布鲁克公司新一代的X射线粉末衍射仪"D8 ADVANCE with DAVINCI design"的光源、测角仪、光路系统、探测器和应用软件,并对该仪器进行功能开发应用研究。测试表征了介孔材料SBA-15的小角衍射,并与"NanoSTAR X射线小角散射系统"测试的结果进行对比;测试了3种纤维样品的取向度;通过X射线反射(XRR)测定多层膜,并使用Leptos软件进行了拟合,得到了各层膜的厚度、粗糙度及密度;通过测定单晶样品的摇摆曲线来确定单晶样品的晶面;最后简要介绍了对分布函数(Pair Distribution Functions(PDF))的测定及计算。通过对这些非常规的测试及表征,开发了该仪器的功能。

国产X射线粉末衍射仪的现状

对国产X射线粉末衍射仪的现状进行了评述。近年国产粉末衍射仪较之以前已有很大的进步。虽与进口仪器仍有差距,但国产仪器已可满足粉末结构分析和物相分析的基本需要。现在无论应用国产衍射仪还是进口知名衍射仪,在相近的实验条件下,得到的X射线粉末衍射图数据的质量是同一水平的。

X射线粉末衍射仪

1引言 X射线粉末衍射仪的英文名称是X-ray powder diffractometer简写为XPD或XRD.有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray po1ycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD.

X射线粉末衍射仪用试样的制作

该文扼要介绍了布拉格-勃郎泰诺衍射仪的聚焦几何及由此得出的对试样的要求、需测定的不同物理量对试样制作的不同要求、一些常用的试样制做方法及讨论在几种情况下制样时需注意的一些方面。

X射线粉末衍射仪性能的评估

叙述从衍射数据的质量来评估X射数粉末衍射仪的性能的观点和方法。主要衍射数据为衍射峰的位置(布拉格角2θ),衍射的强度(衍射峰的积分强度I和各测量点强度Y)和衍射峰的峰形(半峰宽H与分辨率)。

X射线粉末衍射仪的新进展

介绍了ＸＭ线粉末衍射仪最新技术进展及今后的发展趋势。

X射线粉末衍射仪的使用及维护

X射线粉末衍射仪在材料分析中应用广泛,其中最常用的分析为物相分析。文中介绍了X射线粉末衍射仪的工作原理、衍射图谱的形成、仪器的主要组成等,并使用该仪器对试样进行测试和对测试谱图进行分析,阐述了仪器测试时条件的优化选择。此外,还介绍了X射线粉末衍射仪的一些日常维护、操作注意事项。

X射线粉末衍射仪智能辅助校正系统

X射线粉末衍射仪(X-Ray powder Diffraction,XRD)是物质研究的精密仪器,物理结构复杂,微小的硬件偏差会对衍射数据质量造成影响,对其硬件设备进行偏差校正将有效保证数据正确性,在校正偏差前需要进行偏差类型识别.通常衍射仪设备调校多由设备厂商专家使用专用仪器和设备逐项排查的方式进行偏差校正,对人员经验有较高依赖、调校过程复杂且效率低.为了提高偏差识别效率,本文探讨了X射线粉末衍射仪偏差类型及其产生原因,并开发了一套基于分类预测的X射线粉末衍射仪智能辅助校正系统.该系统采用通用计算机硬件平台,通过特征提取、模型训练等步骤分析标准样品衍射数据,自动化识别仪器状态、辅助校正.结果表明该系统可以快速识别偏差,达到辅助校正的目的.

用X射线粉末衍射仪测定晶体热膨胀新技术的鉴测结果

我们用飞利浦ＰＷ＿（１５３０ＱＳ）型标准ＬｉＦ单晶来检测鉴定刘奉朝所述的用ｘ射线粉末衍射仪测定晶体材料热膨胀的新技术￣［１］，获得ＬｉＦ在不同温区的线性热膨胀系数为（３．２６±０．０２）×１０￣（－５）／℃（１０．４５－１５．８０℃）、（３．３３±０．０１）×１０￣（－５）／℃（１５．７４－２１．４７℃）、（３．４５±０．０１）×１０￣（－５）／℃（２１．４５－２５．２５℃）和（３．３４±０．０２）×１０￣（－５）／℃（１０．４５－２５．２５／℃），这些结果跟有关文献用传统技术所得的结果相符，跟刘奉朝先前的报道一致。这些结果表明新技术比传统技术先进（准确度高且简便易行）。

X-射线粉末衍射仪测试条件的简单探究

X-射线粉末衍射仪(X-ray power diffractometer,XRPD)是一种非常重要的材料分析测试仪,它在许多学科和领域都有着广泛的的应用。目前在高校中,X-射线粉末衍射仪已经成为样品表征的必备仪器,其应用于科学研究的同时并逐步应用在实验教学、课程改革和人才培养。该仪器在测试过程中对各种参数的设置对测试结果有很大的影响,本文以Al_2O_3粉末作为研究对象初步探究X-射线粉末衍射仪各种参数设置如电压、电流、扫描速度及扫描步长对其测试结果的影响并对各种参数进行优化。

X-射线粉末衍射仪在材料化学专业实验教学中的应用

培养光电功能材料及相关领域材料的合成与加工、结构与性能分析等具有科学研究能力的高级工程技术人才是我校材料化学专业培养目标中明确提出的培养目标之一。X-射线衍射物相分析实验在材料化学的整个培养体系中发挥着越来越重要的作用。本文以X-射线粉末衍射仪在我校材料化学专业理论和实验教学实践为例,探索高等院校在创新人才培养过程中大型分析测试仪器在材料化学专业教学的积极作用和意义。

中国先进研究堆高分辨中子粉末衍射谱仪模拟研究

应用蒙特卡罗方法对中国先进研究堆 (CARR)上的高分辨中子粉末衍射谱仪 (HRPD)的物理设计进行了模拟研究。给出了谱仪的分辨率曲线、样品处中子通量密度等主要参数的模拟计算结果 ,讨论了高分辨模式和高强度模式下的分辨率和强度变化 。

X射线粉末衍射少量试样的试样板制作

从对参与衍射的试样体积(宽度)、入射X射线在试样表面的总光量和亮度及X射线被试样吸收三个方面在扫描过程中的变化的分析出发,讨论了在试样量少到不能以薄层填满整个试样槽时,如何制作试样板以得到衍射强度高的高质量衍射谱的方法。在固定发散狭缝宽度的条件下,为使参与衍射的试样面积大,使长度方向的试样尺寸与X射线管中线焦点的长度相同比试样宽度等于试样槽宽度更有利于得到较高的衍射强度。但参与衍射的试样体积会在高θ角时随θ增加而减少。如用可变狭缝,则在全扫描过程中,全部试样始终参与衍射,衍射强度更高,但入射光光通量随θ增加而增加。如改用细条状试样及不需扫描的德拜-谢乐或纪尼叶衍射几何,则入射光光通量和参与衍射的试样体积均不随θ角变化。

三探头中子粉末衍射系统研制

本系统介绍了用微型计算机进行运行控制和信息采集及处理的三探头中子粉末衍射仪系统.在该项研究中首次采用了对工作环境适应性强的感应同步器测角和三探头中子探测方案获得良好效果.文章最后报告了该系统中衍射仪的研制结果.