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题名气泡法粗漏检测试验及分析
被引量:4
- 1
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作者
王庚林
李飞
王彩义
李宁博
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机构
北京市科通电子继电器总厂有限公司
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第A01期4-10,共7页
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文摘
介绍了使用两种不同的液体组合所进行的气泡法粗漏检测对比实验,根据检测结果使用拟合法计算等效标准漏率大值L_3,给出了两种不同液体组合最小可检等效标准漏率L_0及检出率,分析了造成漏检的原因,进而分新了不同的流体组合粗漏检测所对应的氯质谱细漏检测量长候检时间及取代氟碳化合物气泡法粗漏检测方法的必要性,提出了改进氮质谱粗漏细漏组合检测方法的建议。
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关键词
气泡法粗检漏
标准漏率
氦质谱细检漏
最长候检时间
粗漏细漏组合检测
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Keywords
bubble method forfine leak detection
the maximumgross leak testgross leak test
standard leak rate
helium mass spectrometricdwell time
the combination test method of fine leak test and
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分类号
TB774
[一般工业技术—真空技术]
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题名以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法
被引量:4
- 2
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作者
王庚林
李宁博
李飞
董立军
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机构
北京市科通电子继电器总厂有限公司
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出处
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2015年第4期436-441,447,共7页
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文摘
介绍了积累氦质谱检漏仪的出现和积累氦质谱组合检测方法的提出,分析了现行美国军用标准采用的以氦气为粗漏细漏示踪气体组合检测方法的局限性,介绍了改进这种方法的发明专利,指出改进后在适用严密等级τHemin和内腔容积V范围方面的局限性。论述了以氩气为粗漏示踪气体、以氦气为细漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法的优越性,给出了设计这种专利方法的逻辑思路和理论公式,指出这种方法对需要检测的τHemin和V范围,具有良好的适用性,并且提出了改进积累氦质谱检漏仪的要求。
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关键词
积累氦质谱检漏仪
粗漏细漏组合检漏
局限性
氩气粗漏检测
氦气细漏检测
适用性
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Keywords
accumulative helium leak detector
gross/fine leak combination test
limitation
argon gross-leak test
helium fine-leak test
applicability
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分类号
TB42
[一般工业技术]
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题名积累氦质谱组合检测中防止漏检的方法
- 3
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作者
王庚林
李宁博
董立军
李飞
刘永敏
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机构
北京市科通电子继电器总厂有限公司
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出处
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2016年第4期407-416,共10页
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文摘
作者在积累氦质谱组合检测中发现存在粗漏漏检现象,美国宇航局2013年2014年的研究报告揭示,各种组合检测复测中均存在粗漏细漏漏检现象。文章对积累氦质谱组合检测和氩粗漏氦细漏组合检测的粗漏检测,提出了确定最长粗漏检测时间的方法;对这两种组合检测和氦质谱检测的细漏检测,综合给出了定量确定和拓展细漏检测最长候检时间的方法,论证了压氦压力不应小于2倍的大气压力,提出了确定预充氦法和预充氦氩法最小候检时间的方法,提出了确定最长细漏检测时间的方法,从而可减少和防止粗漏和细漏漏检;并通过对美国宇航局报告中实例的分析,验证了以上方法的有效性。同时指出漏孔堵塞是造成漏检的原因之一,但不是形成微型元器件高比率漏检的主要原因。
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关键词
密封性检测
积累氦质谱
粗漏检测
细漏检测
漏检
漏孔堵塞
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Keywords
Hermeticity test
accumulative helium mass spectrometry
gross-leak test
fine-leak test
detection missing
the leak blocking
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分类号
TB774.3
[一般工业技术—真空技术]
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