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电子元器件的选用和老化方法的讨论
被引量:
4
1
作者
胡俊达
王书林
《电子质量》
2003年第11期J007-J008,J016,共3页
在研制和设计新的电子产品和设备时,为了保证质量,必须对电子产品(设备)所采用的元器件进行认真的选择和筛选,本文对如何选用电子元器件的原则和老化试验方法进行了讨论和介绍。
关键词
电子元器件
老化方法
选用原则
高温贮藏
离心加速度
粗细检漏
下载PDF
职称材料
题名
电子元器件的选用和老化方法的讨论
被引量:
4
1
作者
胡俊达
王书林
机构
湖南工程学院
南京工程学院
出处
《电子质量》
2003年第11期J007-J008,J016,共3页
文摘
在研制和设计新的电子产品和设备时,为了保证质量,必须对电子产品(设备)所采用的元器件进行认真的选择和筛选,本文对如何选用电子元器件的原则和老化试验方法进行了讨论和介绍。
关键词
电子元器件
老化方法
选用原则
高温贮藏
离心加速度
粗细检漏
Keywords
screen aging test reliability
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
电子元器件的选用和老化方法的讨论
胡俊达
王书林
《电子质量》
2003
4
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