期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
粗铝丝超声键合的尾丝控制研究
被引量:
1
1
作者
贺从勇
李双江
《微电子学》
CAS
北大核心
2022年第3期513-518,共6页
针对自动粗铝丝超声楔焊键合的尾丝质量问题,剖析了键合尾丝的形成机理,建立了键合尾丝缺陷故障树,构建了键合尾丝缺陷的因果关系图,提出了尾丝缺陷现象与根源因素的影响关系矩阵,确立了尾丝质量控制的关键控制点和控制要求。
关键词
粗铝丝键合
尾丝
质量控制
下载PDF
职称材料
金属外壳键合可靠性研究
2
作者
侯育增
臧子昂
+2 位作者
杨宝平
李欣
吴竹青
《集成电路通讯》
2013年第2期35-39,共5页
除粗铝丝键舍工艺中键合超声功率、超声时间等键合参数对键合可靠性具有直接影响外,引线柱材料、引线柱尺寸、内部组装材料均对粗铝丝键合可靠性具有相关影响,对三种常见功率外壳粗铝丝键合可靠性进行对比分析,综合键合强度随时间的...
除粗铝丝键舍工艺中键合超声功率、超声时间等键合参数对键合可靠性具有直接影响外,引线柱材料、引线柱尺寸、内部组装材料均对粗铝丝键合可靠性具有相关影响,对三种常见功率外壳粗铝丝键合可靠性进行对比分析,综合键合强度随时间的衰减、脱键现象、可键合性的结果,薄镀金引线外壳粗铝丝键合的可键合性和可靠性效果最佳。
展开更多
关键词
粗铝丝键合
功率电路用金属外壳
键
合
可靠性
HIC
下载PDF
职称材料
中大功率HIC金属外壳引线键合工艺研究
被引量:
2
3
作者
李杰
《集成电路通讯》
2010年第3期16-22,共7页
多金属键合体系在可靠性方面往往会出问题,中大功率HIC电路的金属外壳的引线键合通常是多金属键合体系,因此也不可避免产生金属间化合物。如何防止金属间化合物产生致命的失效,是摆在组装工程师面前的一个难题。本文从多角度对中大...
多金属键合体系在可靠性方面往往会出问题,中大功率HIC电路的金属外壳的引线键合通常是多金属键合体系,因此也不可避免产生金属间化合物。如何防止金属间化合物产生致命的失效,是摆在组装工程师面前的一个难题。本文从多角度对中大功率电路金属外壳键合进行分析,通过材料的改进和工艺的优化,使得中大功率电路金属外壳引线键合的可靠性得到一定的提升,并给出一套中大功率电路金属外壳引线键合工艺设计方案。
展开更多
关键词
中大功率电路金属外壳
粗铝丝键合
金带
键
合
金属间化
合
物
下载PDF
职称材料
题名
粗铝丝超声键合的尾丝控制研究
被引量:
1
1
作者
贺从勇
李双江
机构
中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《微电子学》
CAS
北大核心
2022年第3期513-518,共6页
基金
重庆科委基金资助项目(cstc2021jcyj-bsh0246)。
文摘
针对自动粗铝丝超声楔焊键合的尾丝质量问题,剖析了键合尾丝的形成机理,建立了键合尾丝缺陷故障树,构建了键合尾丝缺陷的因果关系图,提出了尾丝缺陷现象与根源因素的影响关系矩阵,确立了尾丝质量控制的关键控制点和控制要求。
关键词
粗铝丝键合
尾丝
质量控制
Keywords
heavy aluminium wire bonding
wire tail
quality control
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
金属外壳键合可靠性研究
2
作者
侯育增
臧子昂
杨宝平
李欣
吴竹青
机构
北方通用电子集团有限公司微电子部
出处
《集成电路通讯》
2013年第2期35-39,共5页
文摘
除粗铝丝键舍工艺中键合超声功率、超声时间等键合参数对键合可靠性具有直接影响外,引线柱材料、引线柱尺寸、内部组装材料均对粗铝丝键合可靠性具有相关影响,对三种常见功率外壳粗铝丝键合可靠性进行对比分析,综合键合强度随时间的衰减、脱键现象、可键合性的结果,薄镀金引线外壳粗铝丝键合的可键合性和可靠性效果最佳。
关键词
粗铝丝键合
功率电路用金属外壳
键
合
可靠性
HIC
分类号
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
下载PDF
职称材料
题名
中大功率HIC金属外壳引线键合工艺研究
被引量:
2
3
作者
李杰
机构
中国兵器工业第
出处
《集成电路通讯》
2010年第3期16-22,共7页
文摘
多金属键合体系在可靠性方面往往会出问题,中大功率HIC电路的金属外壳的引线键合通常是多金属键合体系,因此也不可避免产生金属间化合物。如何防止金属间化合物产生致命的失效,是摆在组装工程师面前的一个难题。本文从多角度对中大功率电路金属外壳键合进行分析,通过材料的改进和工艺的优化,使得中大功率电路金属外壳引线键合的可靠性得到一定的提升,并给出一套中大功率电路金属外壳引线键合工艺设计方案。
关键词
中大功率电路金属外壳
粗铝丝键合
金带
键
合
金属间化
合
物
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
粗铝丝超声键合的尾丝控制研究
贺从勇
李双江
《微电子学》
CAS
北大核心
2022
1
下载PDF
职称材料
2
金属外壳键合可靠性研究
侯育增
臧子昂
杨宝平
李欣
吴竹青
《集成电路通讯》
2013
0
下载PDF
职称材料
3
中大功率HIC金属外壳引线键合工艺研究
李杰
《集成电路通讯》
2010
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部