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基于“双心同治”对冠状动脉血运重建术后胸痛的理论探讨
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作者 张毅 王帅 《中医临床研究》 2023年第32期35-39,共5页
冠状动脉血运重建术术后患者常伴有焦虑抑郁等不良情志,且这种不良情志又诱发或加重胸痛,临床中常将此类疾病称为“双心疾病”。术后出现胸痛的主要原因包括术后精神焦虑抑郁,血管再灌注损伤,介入性诊疗操作导致血管痉挛,炎性反应,桥血... 冠状动脉血运重建术术后患者常伴有焦虑抑郁等不良情志,且这种不良情志又诱发或加重胸痛,临床中常将此类疾病称为“双心疾病”。术后出现胸痛的主要原因包括术后精神焦虑抑郁,血管再灌注损伤,介入性诊疗操作导致血管痉挛,炎性反应,桥血管狭窄甚至闭塞等。近年来,冠状动脉学运重建术后胸痛复发率日渐增加,常规的西医治疗已经不能满足临床需要。临床发现,此胸痛与焦虑抑郁等不良情绪已成为术后胸痛的独立危险因素,而中医治疗术后胸痛伴焦虑抑郁等不良情绪已有一定的疗效和进展。在医学模式已转变为“生物-心理-社会”的条件下,越来越多的人开始注重“双心同治”。文章基于传统医学对五脏生理功能与病理变化特点的阐述,在《黄帝内经》精气血神理论基础上,从“精气化神”“心主神明”与“心主血脉”角度进行探讨,在血脉失和的病机基础上,表明心肝精气失调致神明失守为另一重要病机。文章论治术后胸痛时,在益气和脉、疏调肝气、暖土益火、调和营卫、调气解毒以调和血脉的基础上,始终贯穿祛瘀养肝调神,得以“双心同治”,望为临床提供更多的思路。 展开更多
关键词 冠状动脉血运重建术 血脉失和 精气化神 双心同治
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1.0μm gate-length InP-based InGaAs high electron mobility transistors by mental organic chemical vapor deposition 被引量:1
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作者 高成 李海鸥 +1 位作者 黄姣英 刁胜龙 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2012年第12期3444-3448,共5页
InGaAs high electron mobility transistors (HEMTs) on InP substrate with very good device performance have been grown by mental organic chemical vapor deposition (MOCVD). Room temperature Hall mobilities of the 2-D... InGaAs high electron mobility transistors (HEMTs) on InP substrate with very good device performance have been grown by mental organic chemical vapor deposition (MOCVD). Room temperature Hall mobilities of the 2-DEG are measured to be over 8 700 cm^2/V-s with sheet carrier densities larger than 4.6× 10^12 cm^ 2. Transistors with 1.0 μm gate length exhibits transconductance up to 842 mS/ram. Excellent depletion-mode operation, with a threshold voltage of-0.3 V and IDss of 673 mA/mm, is realized. The non-alloyed ohmic contact special resistance is as low as 1.66×10^-8 Ω/cm^2, which is so far the lowest ohmic contact special resistance. The unity current gain cut off frequency (fT) and the maximum oscillation frequency (fmax) are 42.7 and 61.3 GHz, respectively. These results are very encouraging toward manufacturing InP-based HEMT by MOCVD. 展开更多
关键词 metamorphic device mental organic chemical vapor deposition high electron mobility transistors InP substrate INGAAS
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