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关于同位素质谱仪的系统稳定性
被引量:
8
1
作者
刘文贵
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2001年第2期64-68,共5页
同位素质谱仪的系统稳定性是衡量同位素质谱仪质量的重要指标之一 ,它直接影响检测数据的准确度与精确度。本文探讨了影响系统稳定性指标的主要因素 ,即几何参数影响和电气参数的影响 ,以期为解决此类问题提供帮助。
关键词
同位素质谱仪
分辨率R
峰形Ps
系统稳定性ss
离子束
离子源
下载PDF
职称材料
题名
关于同位素质谱仪的系统稳定性
被引量:
8
1
作者
刘文贵
机构
宜昌地矿所同位素室
出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2001年第2期64-68,共5页
文摘
同位素质谱仪的系统稳定性是衡量同位素质谱仪质量的重要指标之一 ,它直接影响检测数据的准确度与精确度。本文探讨了影响系统稳定性指标的主要因素 ,即几何参数影响和电气参数的影响 ,以期为解决此类问题提供帮助。
关键词
同位素质谱仪
分辨率R
峰形Ps
系统稳定性ss
离子束
离子源
Keywords
isotope ma
ss
spectrometer, resoluation, peak shape. system stability. ion beam, ion source
分类号
TL817.4 [核科学技术—核技术及应用]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
关于同位素质谱仪的系统稳定性
刘文贵
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2001
8
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