绝缘子表面RTV憎水性与其放电的紫外成像结果关系研究

室温硫化硅橡胶(RTV)涂料在运行过程中会逐渐老化,可采用憎水性测量和理化手段分析其老化程度,但无法对运行中的绝缘子进行评估。通过涂污的方式模拟绝缘子表面RTV憎水性的减弱,对绝缘子串加压并用紫外成像仪记录放电过程,研究憎水性与紫外成像结果的关系。分析放电产生的紫外光子数和光斑面积发现,绝缘子串表面RTV憎水性越差,其发生显著放电的电压越低,相同电压下放电程度越剧烈。研究成果为运行中绝缘子RTV憎水性能的评估提供了一种新思路。