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散粒噪声用于纳米电子器件与结构的量子效应表征
1
作者
陈华
杜磊
+3 位作者
庄奕琪
陈文豪
唐冬和
李晨
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009年第4期201-208,共8页
论述了纳米电子器件与结构中散粒噪声的产生机理和影响因素,表明散粒噪声与输运过程密切相关,按照噪声功率谱的幅值大小将散粒噪声分为泊松散粒噪声、亚泊松散粒噪声和超泊松散粒噪声四类。将散粒噪声的这些规律应用于纳米电子器件和结...
论述了纳米电子器件与结构中散粒噪声的产生机理和影响因素,表明散粒噪声与输运过程密切相关,按照噪声功率谱的幅值大小将散粒噪声分为泊松散粒噪声、亚泊松散粒噪声和超泊松散粒噪声四类。将散粒噪声的这些规律应用于纳米电子器件和结构,可表征不同器件与结构中的量子效应。利用散粒噪声已经成功检测到无序导线中的开放通道与量子点混沌腔中的波动性,测量出超导体与分数量子霍尔效应中的准粒子电荷。将散粒噪声用于检测纠缠态对量子计算具有重要的意义,自旋相干输运的检测是自旋电子学的重要研究课题。
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关键词
散粒噪声
开放通道
传输电荷单元
自旋相干
弹道输运
纠缠态探测
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职称材料
题名
散粒噪声用于纳米电子器件与结构的量子效应表征
1
作者
陈华
杜磊
庄奕琪
陈文豪
唐冬和
李晨
机构
西安电子科技大学技术物理学院
西安电子科技大学微电子学院
出处
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009年第4期201-208,共8页
基金
西安应用材料创新基金资助项目(XA-AM-200603)
文摘
论述了纳米电子器件与结构中散粒噪声的产生机理和影响因素,表明散粒噪声与输运过程密切相关,按照噪声功率谱的幅值大小将散粒噪声分为泊松散粒噪声、亚泊松散粒噪声和超泊松散粒噪声四类。将散粒噪声的这些规律应用于纳米电子器件和结构,可表征不同器件与结构中的量子效应。利用散粒噪声已经成功检测到无序导线中的开放通道与量子点混沌腔中的波动性,测量出超导体与分数量子霍尔效应中的准粒子电荷。将散粒噪声用于检测纠缠态对量子计算具有重要的意义,自旋相干输运的检测是自旋电子学的重要研究课题。
关键词
散粒噪声
开放通道
传输电荷单元
自旋相干
弹道输运
纠缠态探测
Keywords
shot noise
open channels
unit of transferered charge
spin coherence
ballistic transport
entanglement detector
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
O471.1 [理学—半导体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
散粒噪声用于纳米电子器件与结构的量子效应表征
陈华
杜磊
庄奕琪
陈文豪
唐冬和
李晨
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009
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职称材料
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