高过载条件下红外成像技术研究

通过对抗过载技术在理论上进行深入分析,研究了减振新方法、新工艺,增加可行的减振措施。通过减重、高强度材料、减振垫及对电子线路器件进行整体灌封加固等措施,提高了红外成像系统的短时抗高过载的能力,为红外图像制导的进一步工程化研制奠定了基础。