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基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究
被引量:
9
1
作者
张发强
张维光
万文博
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019年第9期62-67,共6页
杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光...
杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光学系统实例,提出了反向光线追迹的思路,分析系统关键表面的特性,提出了给机械表面涂覆吸收膜的方法来抑制系统的杂散辐射,分析结果满足杂散辐射抑制的要求。
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关键词
红外探测光学系统
杂散辐射
反向光线追迹
关键表面
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职称材料
题名
基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究
被引量:
9
1
作者
张发强
张维光
万文博
机构
西安工业大学光电工程学院
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019年第9期62-67,共6页
基金
陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(17JS051)
文摘
杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光学系统实例,提出了反向光线追迹的思路,分析系统关键表面的特性,提出了给机械表面涂覆吸收膜的方法来抑制系统的杂散辐射,分析结果满足杂散辐射抑制的要求。
关键词
红外探测光学系统
杂散辐射
反向光线追迹
关键表面
Keywords
infrared detection optical system
stray radiation
backward ray-tracing
key surface
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究
张发强
张维光
万文博
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019
9
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