红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

由于传统的贝它（Beat）技术、伽玛（Gamma）技术和X射线（X—ray）技术，在测量超薄薄膜厚度时技术不完善，更无法测量多层共挤材料中阻隔层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度；NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉（OFI）的影响，能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。

红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X-ray)技术，在测量超薄薄膜厚度时技术不完善，更无法测量多层共挤材料中阻隅层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近纪外光具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度；NDC近红外专利扳术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响，能高精度、高分辨室、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。

基于NDIR的塑料薄膜厚度在线检测系统

为了快速、精确的在线测量塑料薄膜厚度,提出了一种基于NDIR的塑料薄膜厚度在线检测技术,此技术改进了现代近红外测厚方法中常采用的双单色红外光对比法,使用单光源简化了双光源调制的难度,优化了由于双光源照射薄膜不同位置带来的准确性问题。应用上述技术设计实现了此检测系统,此系统应用NDIR相关技术,将现代数字信号处理方法用于数据处理过程中。通过实验方式得到测量结果,并对测量结果进行了数据分析和误差统计,实验结果表明,此系统具有精度高,稳定性可靠等优点,值得推广。

四层瓦楞纸制板机控制系统

用四层瓦楞纸替代包装行业产量最大的五层瓦楞纸板,可降低生产成本,节约资源。针对四层瓦楞纸制板机机械结构的特点,设计了新型控制系统。本文介绍了控制系统采用的红外激光测厚方法,给出了对瓦楞纸的成型精度进行调节模糊控制算法,MATLAB仿真结果表明,设计的控制系统能够满足四层瓦楞纸生产的需要。