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红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用 被引量:2
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作者 董殿会 程江 王广彪 《塑料加工》 2008年第1期45-51,共7页
由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X—ray)技术,在测量超薄薄膜厚度时技术不完善,更无法测量多层共挤材料中阻隔层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理,可测量多层共挤材料... 由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X—ray)技术,在测量超薄薄膜厚度时技术不完善,更无法测量多层共挤材料中阻隔层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理,可测量多层共挤材料每一层的厚度;NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响,能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。 展开更多
关键词 红外测厚技术 超薄薄膜 多层共挤薄膜
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