合成绝缘子故障的红外热像在线检测

文章介绍了用红外热像测温跟踪缺陷合成绝缘子的状况以及对其的电气试验情况,合成绝缘子运行中发热是因为内部界面缺陷局部放电引起的。对运行中同类型的合成绝缘子进行了普查,发现存在过热缺陷的合成绝缘子缺陷率高达20%以上。最后,文章分析了合成绝缘子产生界面缺陷的原因,指出2年一次的红外定期热像测温可以检测和监测此类界面缺陷。