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PZT铁电薄膜纳米尺度畴结构的扫描力显微术研究
被引量:
11
1
作者
曾华荣
李国荣
+1 位作者
殷庆瑞
唐新桂
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第7期1783-1787,共5页
利用扫描力显微术中压电响应模式原位研究了 (111)择优取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜的纳米尺度畴结构及其极化反转行为 .铁电畴图像复杂的畴衬度与晶粒中的畴排列和晶粒的取向密切相关 .直接观察到极化反转期间所形成的小至 30nm宽的台阶...
利用扫描力显微术中压电响应模式原位研究了 (111)择优取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜的纳米尺度畴结构及其极化反转行为 .铁电畴图像复杂的畴衬度与晶粒中的畴排列和晶粒的取向密切相关 .直接观察到极化反转期间所形成的小至 30nm宽的台阶结构 ,该台阶结构揭示了 (111)取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜在极化反转期间其畴成核与生长机理主要表现为铁电畴的纵向生长机理 .
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关键词
PZT薄膜
铁电薄膜
纳米尺度畴结构
扫描力显微术
极化反转
畴
成核
纵向生长机理
原文传递
题名
PZT铁电薄膜纳米尺度畴结构的扫描力显微术研究
被引量:
11
1
作者
曾华荣
李国荣
殷庆瑞
唐新桂
机构
中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第7期1783-1787,共5页
基金
国家重点基础研究发展规划项目(批准号 :2 0 0 2CB613 3 0 7)
国家高技术研究发展计划 (批准号 :2 0 0 1AA3 2 5 0 3 0 )资助的课题~~
文摘
利用扫描力显微术中压电响应模式原位研究了 (111)择优取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜的纳米尺度畴结构及其极化反转行为 .铁电畴图像复杂的畴衬度与晶粒中的畴排列和晶粒的取向密切相关 .直接观察到极化反转期间所形成的小至 30nm宽的台阶结构 ,该台阶结构揭示了 (111)取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜在极化反转期间其畴成核与生长机理主要表现为铁电畴的纵向生长机理 .
关键词
PZT薄膜
铁电薄膜
纳米尺度畴结构
扫描力显微术
极化反转
畴
成核
纵向生长机理
Keywords
domain structure
switching mechanism
PZT thin film
scanning force microscopy
分类号
O484.42 [理学—固体物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
PZT铁电薄膜纳米尺度畴结构的扫描力显微术研究
曾华荣
李国荣
殷庆瑞
唐新桂
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
11
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参考文献
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