期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
PZT铁电薄膜纳米尺度畴结构的扫描力显微术研究 被引量:11
1
作者 曾华荣 李国荣 +1 位作者 殷庆瑞 唐新桂 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第7期1783-1787,共5页
利用扫描力显微术中压电响应模式原位研究了 (111)择优取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜的纳米尺度畴结构及其极化反转行为 .铁电畴图像复杂的畴衬度与晶粒中的畴排列和晶粒的取向密切相关 .直接观察到极化反转期间所形成的小至 30nm宽的台阶... 利用扫描力显微术中压电响应模式原位研究了 (111)择优取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜的纳米尺度畴结构及其极化反转行为 .铁电畴图像复杂的畴衬度与晶粒中的畴排列和晶粒的取向密切相关 .直接观察到极化反转期间所形成的小至 30nm宽的台阶结构 ,该台阶结构揭示了 (111)取向的PZT6 0 4 0铁电薄膜在极化反转期间其畴成核与生长机理主要表现为铁电畴的纵向生长机理 . 展开更多
关键词 PZT薄膜 铁电薄膜 纳米尺度畴结构 扫描力显微术 极化反转 成核 纵向生长机理
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部