银纳米薄膜试片在博物馆藏展材料评估筛选中的应用

Oddy测试法是一种最为常用的评估材料是否适合博物馆文物储藏与展示的测试方法,其缺点在于采用活性低的块状金属试片,需要28天的测试周期,同时试片表面平整度以及人为主观因素会影响目测结果的准确性。本工作制备了银纳米薄膜试片替代Oddy测试法中块状金属试片,以半径10mm玻璃圆片为基质,银薄膜厚度约为200～220nm。实验结果表明,采用银纳米薄膜试片后,腐蚀现象在14d后可充分显现并分化,延长至28d时腐蚀现象基本无大变化,有效的缩短了测试周期。同时尝试结合数码图像采集技术,有利于进一步的腐蚀现象数据化分析研究工作,从而得到更加客观准确的测试结果。

图像处理方法在研究纳米薄膜试片腐蚀特性中的应用

采用纳米薄膜试片代替块状金属试片,可以有效的解决藏展材料评估筛选中的测试周期长,误差大的问题,对薄膜试片进行数据化分析则可以避免人为主观判断的影响。本工作首先对圆形的薄膜试片进行检测,然后采用基于K均值聚类的图像分割算法对试片图像进行分割,得到试片被腐蚀的面积比例,同时与人工观察的试片腐蚀程度进行比较判断。结果显示,本方法可以有效的对薄膜试片的腐蚀程度进行数据化评判,从而能够较为客观准确的对材料进行评估筛选。