纳米计量学的基础技术组件

为了满足ASTROD激光宇航动力学任务慨念计划的高精度要求 ,以及实现新质量标准 ,我们开始进行次纳米激光测长与纳米定位控制的研究。本文将回顾我们在清华大学与工研院测量中心的研究成果 ,介绍如何利用外差式激光干涉仪、挠性微动台与压电陶瓷 ,进行次纳米激光测长与纳米定位控制。此研究成果将做为ASTROD计划中 ,无拖曳航天技术的研发基础。之后讨论如何将纳米定位控制系统与扫描穿隧显微镜进行整合 ,完成计量型扫描穿隧显微镜 ,进一步将微结构的测量尺寸直接追溯至长度标准。

纳米计量领域中标准物质调查分析

一、调查情况说明 1．调查背景 纳米技术是一门交叉性很强的综合学科．研究的内容涉及现代科技的广阔领域。1993年．国际纳米科技指导委员会将纳米技术划分为纳米电子学、纳米物理学、纳米化学、纳米生物学、纳米加工学和纳米计量学等6个分支学科。其中．前5个分支学科主要以纳米材料和纳米器件为研究对象。纳米计量学则以纳米尺度范围内的检测与表征为主要研究内容。 纳米尺度范围内的检测与表征既是纳米技术研究必不可少的手段，也是纳米理论与实验的重要基础。

纳米计量与分子坐标测量机系统设计(1)

从纳米计量学与纳米计量测试的基本概念和基本要求出发，参考有关国外文献，编译了这篇文章，介绍纳米计量学和分子坐标测量机的研究成果。对从事这方面研究的科研人员具有一定的参考价值。文章中首先讨论纳米计量学的概念及其测量不确定度标准，实现纳米计量的手段─—建立分子坐标测量机；叙述了分子测量机设计概念和原则；关于分子测量机机械设计，主要讨论了隔离机械振动、热源、声振动等，二维导轨结构，探针安装及结构材料选择等；计量学系统中的计量基准、激光外差干涉仪及条纹细分；最后介绍了分子测量机测量精度的验证与标定。

计量型原子力测头模型研究及性能分析

建立了具有立体光路的光束偏转法原子力测头的模型,给出测头的放大能力,证明光路不会对光束偏转法的分辨力造成影响.分析了光路特性,说明光斑运动轨迹与规律.以此为基础完成了一个用于纳米计量的原子力测头,测头读数可溯源.测头的重复性通过实验验证,测头信号实验标准差为0.318nm.该测头应用在“2.5维大范围纳米结构测量系统”中,对台阶高度样板进行测量,取得了良好结果.

纳米声乐与纳米声乐技术

1引言 1990年,第一届国际纳米科学与技术会议在美国巴尔的摩市举办,标志着纳米科技的诞生。经过二十年飞速的发展,纳米科技的影响已经遍及人类社会生产与生活的各个角落,已派生了包括纳米材料学、纳米物理学、纳米化学、纳米电子学、纳米计量学、纳米机械学、纳米生物学、纳米力学在内的诸多主流学科分支。

表面系统的表征(英文)

需要对表征工程表面的参数进行简化,使之合理化.近年来新提出的参数越来越多,而其必要性并未得以 论证.本文建议表面的表征应与其功能相结合,并首次提出用以表征多表面系统的理论框架.