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纳米计量学的基础技术组件 被引量:6
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作者 叶贤基 《云南天文台台刊》 CSCD 北大核心 2002年第3期101-106,共6页
为了满足ASTROD激光宇航动力学任务慨念计划的高精度要求 ,以及实现新质量标准 ,我们开始进行次纳米激光测长与纳米定位控制的研究。本文将回顾我们在清华大学与工研院测量中心的研究成果 ,介绍如何利用外差式激光干涉仪、挠性微动台与... 为了满足ASTROD激光宇航动力学任务慨念计划的高精度要求 ,以及实现新质量标准 ,我们开始进行次纳米激光测长与纳米定位控制的研究。本文将回顾我们在清华大学与工研院测量中心的研究成果 ,介绍如何利用外差式激光干涉仪、挠性微动台与压电陶瓷 ,进行次纳米激光测长与纳米定位控制。此研究成果将做为ASTROD计划中 ,无拖曳航天技术的研发基础。之后讨论如何将纳米定位控制系统与扫描穿隧显微镜进行整合 ,完成计量型扫描穿隧显微镜 ,进一步将微结构的测量尺寸直接追溯至长度标准。 展开更多
关键词 激光宇航动力学 纳米计量学 纳米级激光测长 纳米定位 挠性移动台 扫描穿隧显微镜
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纳米计量领域中标准物质调查分析 被引量:2
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作者 任玲玲 卢晓华 +1 位作者 李红梅 王海 《中国计量》 2009年第7期71-73,共3页
一、调查情况说明 1.调查背景 纳米技术是一门交叉性很强的综合学科.研究的内容涉及现代科技的广阔领域。1993年.国际纳米科技指导委员会将纳米技术划分为纳米电子学、纳米物理学、纳米化学、纳米生物学、纳米加工学和纳米计量学等6... 一、调查情况说明 1.调查背景 纳米技术是一门交叉性很强的综合学科.研究的内容涉及现代科技的广阔领域。1993年.国际纳米科技指导委员会将纳米技术划分为纳米电子学、纳米物理学、纳米化学、纳米生物学、纳米加工学和纳米计量学等6个分支学科。其中.前5个分支学科主要以纳米材料和纳米器件为研究对象。纳米计量学则以纳米尺度范围内的检测与表征为主要研究内容。 纳米尺度范围内的检测与表征既是纳米技术研究必不可少的手段,也是纳米理论与实验的重要基础。 展开更多
关键词 纳米计量学 标准物质 纳米技术 分支学科 纳米尺度 纳米电子学 纳米物理学 纳米生物学
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纳米计量与分子坐标测量机系统设计(1)
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作者 王佳 《航空计测技术》 1996年第2期37-40,共4页
从纳米计量学与纳米计量测试的基本概念和基本要求出发,参考有关国外文献,编译了这篇文章,介绍纳米计量学和分子坐标测量机的研究成果。对从事这方面研究的科研人员具有一定的参考价值。文章中首先讨论纳米计量学的概念及其测量不确... 从纳米计量学与纳米计量测试的基本概念和基本要求出发,参考有关国外文献,编译了这篇文章,介绍纳米计量学和分子坐标测量机的研究成果。对从事这方面研究的科研人员具有一定的参考价值。文章中首先讨论纳米计量学的概念及其测量不确定度标准,实现纳米计量的手段─—建立分子坐标测量机;叙述了分子测量机设计概念和原则;关于分子测量机机械设计,主要讨论了隔离机械振动、热源、声振动等,二维导轨结构,探针安装及结构材料选择等;计量学系统中的计量基准、激光外差干涉仪及条纹细分;最后介绍了分子测量机测量精度的验证与标定。 展开更多
关键词 纳米计量学 分子坐标测量机 标定
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计量型原子力测头模型研究及性能分析 被引量:4
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作者 卢明臻 高思田 +1 位作者 杜华 崔建军 《纳米技术与精密工程》 EI CAS CSCD 2007年第1期33-37,共5页
建立了具有立体光路的光束偏转法原子力测头的模型,给出测头的放大能力,证明光路不会对光束偏转法的分辨力造成影响.分析了光路特性,说明光斑运动轨迹与规律.以此为基础完成了一个用于纳米计量的原子力测头,测头读数可溯源.测头的重复... 建立了具有立体光路的光束偏转法原子力测头的模型,给出测头的放大能力,证明光路不会对光束偏转法的分辨力造成影响.分析了光路特性,说明光斑运动轨迹与规律.以此为基础完成了一个用于纳米计量的原子力测头,测头读数可溯源.测头的重复性通过实验验证,测头信号实验标准差为0.318nm.该测头应用在“2.5维大范围纳米结构测量系统”中,对台阶高度样板进行测量,取得了良好结果. 展开更多
关键词 纳米计量学 原子力显微镜(AFM) 光束偏转法 溯源 台阶高度样板
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纳米声乐与纳米声乐技术 被引量:5
5
作者 沈海军 《艺术科技》 2010年第2期38-40,共3页
1引言 1990年,第一届国际纳米科学与技术会议在美国巴尔的摩市举办,标志着纳米科技的诞生。经过二十年飞速的发展,纳米科技的影响已经遍及人类社会生产与生活的各个角落,已派生了包括纳米材料学、纳米物理学、纳米化学、纳米电子学、... 1引言 1990年,第一届国际纳米科学与技术会议在美国巴尔的摩市举办,标志着纳米科技的诞生。经过二十年飞速的发展,纳米科技的影响已经遍及人类社会生产与生活的各个角落,已派生了包括纳米材料学、纳米物理学、纳米化学、纳米电子学、纳米计量学、纳米机械学、纳米生物学、纳米力学在内的诸多主流学科分支。 展开更多
关键词 纳米科学 技术会议 声乐 纳米科技 纳米材料学 纳米物理学 纳米电子学 纳米计量学
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表面系统的表征(英文) 被引量:2
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作者 Whitehouse D J 《纳米技术与精密工程》 CAS CSCD 2003年第1期62-70,共9页
需要对表征工程表面的参数进行简化,使之合理化.近年来新提出的参数越来越多,而其必要性并未得以 论证.本文建议表面的表征应与其功能相结合,并首次提出用以表征多表面系统的理论框架.
关键词 表面系统 工程表面 参数 功能 纳米计量学 摩擦学
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Model based reference metrology for dimensional characterization of micro- and nanostructures
7
作者 B. Bodermann H. Bosse 《Optoelectronics Letters》 EI 2008年第2期81-85,共5页
The requirements on the precision of dimensional metrology are especially stringent in the area of semiconductor manufacturing. This holds in particular for the measurement and control of the linewidths of the smalles... The requirements on the precision of dimensional metrology are especially stringent in the area of semiconductor manufacturing. This holds in particular for the measurement and control of the linewidths of the smallest structures on masks and silicon wafers and their corresponding reference metrology. In this paper we will describe the physical models and the reference instrumentation which were developed for photomask linewidth metrology at the PTB. It will be shown, how the results of the different methods can be used for comparative analyses. Application of these methods will be demonstrated exemplarily on the basis of newly developed photomask linewidth standards. 展开更多
关键词 纳米技术 计量方法 集成光学 特征
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Laser induced oxidation and optical properties of stoichiometric and non-stoichiometric Bi2Te3 nanoplates 被引量:1
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作者 Rui He Sukrit Sucharitakul +3 位作者 Zhipeng Ye Courtney Keiser Tim E. Kidd Xuan P. A. Gao 《Nano Research》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第3期851-859,共9页
Bi-Te nanoplates (NPs) grown by a low pressure vapor transport method have been studied by Raman spectroscopy, atomic force microscopy (AFM), energy- dispersive X-ray spectroscopy (EDS), and Auger electron spect... Bi-Te nanoplates (NPs) grown by a low pressure vapor transport method have been studied by Raman spectroscopy, atomic force microscopy (AFM), energy- dispersive X-ray spectroscopy (EDS), and Auger electron spectroscopy (AES). We find that the surface of relatively thick (more than tens of nanometers) Bi2Te3 NPs is oxidized in the air and forms a bump under heating with moderate laser power, as revealed by the emergence of Raman lines characteristic of Bi2O3 and TeO2 and characterization by AFM and EDS. Further increase of laser power burns holes on the surface of the NPs. Thin (thicknesses less than 20 nm) NPs with stoichiometry different from Bi2Te3 were also studied. Raman lines from non-stoichiometric NPs are different from those of stoichiometric ones and display characteristic changes with the increase of Bi concentration. Thin NPs with the same thickness but different stoichiometries show different color contrast compared to the substrate in the optical image. This indicates that the optical absorption coefficient in thin Bi-Te NPs strongly depends on their stoichiometry. 展开更多
关键词 bismuth telluride NANOPLATE Raman spectroscopy oxidation STOICHIOMETRY
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Temporal Behavior of Rabi Oscillation in Nanomechanical QED System with a Nonlinear Resonator
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作者 肖骁 赵明月 +1 位作者 于书敏 高一波 《Communications in Theoretical Physics》 SCIE CAS CSCD 2016年第3期273-277,共5页
In nanomechanical QED system,consisting of a charge qubit and a nanomechanical resonator with intrinsic nonlinearity,we study the temporal behavior of Rabi oscillation in the nonlinear Jaynes-Cummings model.Using micr... In nanomechanical QED system,consisting of a charge qubit and a nanomechanical resonator with intrinsic nonlinearity,we study the temporal behavior of Rabi oscillation in the nonlinear Jaynes-Cummings model.Using microscopic master equation approach,we solve time evolution of the density operator describing this model.Also,the probability of excited state of charge qubit is calculated.These analytic calculations show how nonlinearity parameter and decay rates of two different excited states of the qubit-resonator system affect time-oscillating and decaying of Rabi oscillation. 展开更多
关键词 Rabi oscillation nonlinear resonator microscopic master equation nanomechanical QED
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