纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法

提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常数与导磁率,使测量过程简单高效并具有较高的精度。

纳米磁性金属电磁波吸收剂

分析了纳米磁性金属电磁波吸收剂的吸波原理,综述了纳米磁性金属电磁波吸收材料如零维磁性纳米颗粒、一维磁性金属纳米线、二维磁性薄膜、二维片状磁性金属颗粒的国内外研究进展情况,并对未来的研究方向提出见解。

基于混合优化算法的纳米薄膜参数表征

为了在椭圆偏振测量过程中得到精确的纳米薄膜参数,提出了一种求解纳米薄膜参数的混合优化算法。结合人工神经网络算法反向传播和粒子群算法快速寻优的特点,建立了改进粒子群-神经网络(Improved Particle Swarm Optimization-Neural Network,IPSO-NN)混合优化算法。该算法在较少的迭代次数下具有快速跳出局部最优解的能力,从而快速寻找椭偏方程最优解。文中使用该算法对标称值为(26.7±0.4)nm的硅上二氧化硅纳米薄膜厚度标准样片进行薄膜参数计算。结果表明:采用IPSO-NN混合优化算法计算薄膜厚度时相对误差小于2%,折射率误差小于0.1。同时,文中通过实验对比了传统粒子群算法与IPSO-NN算法,验证了IPSO-NN算法计算薄膜参数时能有效优化迭代次数和寻找最优解的过程,实现快速收敛,提高计算效率。

磁性薄膜微波电磁参数测试方法研究进展

Fe、Co基合金薄膜具有高磁导率、高损耗等特点,可实现微波的宽频带吸收,是一类具有很大发展潜力的新一代吸波材料。磁性膜的复磁导率对吸波性能有重大影响,因而在吸波材料研究中提出了磁谱测量的紧迫要求。综述了国内外磁性薄膜电磁参数微波测量方法,主要介绍了磁性薄膜电磁参数的谐振腔法、双线圈法和传输线法,并对当前研究中存在的问题进行了讨论。

电磁测量技术在单分子层膜参数测试中的应用

本文介绍用光闭环式表面张力传感器、面积传感器和温度传感器与８０９８单片机组成的测量装置，测量不溶性物质单分子层膜的表面张力，测量分子平均占有面积的变化及控制提膜速度并制备ＬＢ膜，其中测量一个分子的厚度的精度可达１ｎｍ，（表面压力──分子平均占有表面积）等温曲线可直接显示在ＣＲＴ屏幕上。

零维纳米金属膜的粒径控制

零维纳米金属膜的粒径控制徐则川，刘丽丽（华中理工大学）金属颗粒随着粒径的减小将发生金属──绝缘体相变，在相变过程中金属颗粒将呈现出特异性能。控制金属颗粒的粒径是获得金属纳米材料特异性能的关键途径。根据薄膜生长理论，在岛生长阶段形成迷津结构之前，可制备...

纳米金属吸收剂耐高温技术研究

在隐身材料领域,纳米金属吸收剂是一种重要的吸收剂,但它在高温下易氧化。通过在纳米金属吸收剂表面包覆二氧化硅膜,制得改性纳米金属吸收剂,并对其进行了SEM、TG、电磁参数和雷达波反射衰减表征。结果表明:改性纳米金属吸收剂具有优异的高温抗氧化性,反射率在高低温之间变化极小,且高温下的吸波性能非常稳定,与常温下的吸波性能基本一致。

光学薄膜参数、测试及设备

O484.5 98063898测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法=Surface plasmon spectroscopy for measuringthe surface roughness of metallic films[刊,中]/邓里文,王恭明(复旦大学物理系三束材料改性国家重点实验室.上海(200433))//光学学报.—1998。

光学薄膜参数测试

O484.5 2001064089一种近似计算金属多层膜界面过渡层厚度的方法=An approximate method for calculating thickness of metal multilayer interface[刊,中]/冯仕猛,易葵,邵建达,范正修(中科院上海光机所.上海(201800))∥光学学报.—2000,20(9).

纳米晶铁纤维微波吸收性能研究

用磁场引导的MOCVD法制备了几种纳米晶铁纤维，用SEM、XRD表征了纳米晶铁纤维的结构，利用各向同性材料电磁参数的测量方法测量了此铁纤维的电磁参数。比较模拟和试验结果发现：应用各向同性材料电磁参数的测量方法，可测量各向异性材料的电磁参数，此参数可用来指导雷达波吸收涂层的设计。

晶圆表面金属薄膜的纳米精度在线测量方法与实现

本文主要介绍了晶圆加工中的几何参数的纳米精度在线测量的原理、方法和测量仪器研究。针对化学机械抛光(CMP)中晶圆表面的金属膜厚的高精度快速在线和离线检测技术的要求,通过数值模拟和理论分析,研究了涡流传感器的参数对其灵敏度的影响规律,得到了提高灵敏度的新方法;实验验证了一种减小提离高度对膜厚测量精度影响的测量方法的有效性,并设计开发了快速多频测试系统;设计了电涡流在线和离线检测系统,并成功应用于国家重大专项项目"超低下压力化学机械抛光装备样机"中,实现了用电涡流方法进行全自动、快速、多模式、大提离条件下的晶圆金属膜厚度纳米级分辨率在线测量和晶圆抛光后铜膜厚度离线全局测量。

关于纳米科技普遍性原理的探讨

1引言在纳米科技研究中,人们可接触到多个纳米科技理论。这些理论都是针对纳米科技的某一领域的某个特殊问题提出来的,并适用于该局部领域,例如:金属薄膜电导率尺寸效应理论;

纳米金属薄膜中光子自旋霍尔效应的最佳弱测量

光子自旋霍尔效应是一种潜在的精密测量工具,在探测微结构材料结构参数变化的研究中具有重要的物理意义。基于光子自旋霍尔效应的弱测量模型研究了纳米金属薄膜中的光子自旋霍尔效应,研究结果表明当弱测量中放大角取相应的特殊值时(即最佳弱测量点),纳米金属薄膜中光子自旋霍尔效应的放大后横移值可达到最大,大大提高了光子自旋霍尔效应的探测精度;在最佳弱测量点得到的放大后横移可以更精确地推断出金属薄膜的实际厚度。实验结果与理论分析符合较好,该方法为研制基于光子自旋霍尔效应的精密测量工具提供了理论与实验基础。

基于椭偏成像光路和表面等离子体共振效应的金属薄膜参数测量方法研究

提出了一种基于椭偏成像光路和表面等离子体共振效应的金属薄膜参数测量方法,在椭偏成像光路中采用p偏振光在金属薄膜与空气界面产生表面等离子体共振效应,利用不产生表面等离子体共振效应的s偏振光消除背景光的影响,得到表面等离子体共振吸收环垂直方向的归一化反射率曲线,数值拟合获得待测金属薄膜的薄膜参数,这种方法不需要求解椭偏方程,数据处理过程简单,求解速度快。实验中,基于该方法的测量结果与标准椭偏仪的测量结果基本一致,很好地验证了该方法的有效性。

一种基于TiO2纳米管阵列的pH传感器

pH值是溶液最重要的物理化学参数之一。玻璃电极是一种常见的电化学型PH传感器，其缺点在于成本较高，玻璃膜本身易碎，难以微型化，使用之前还要预处理而且酸差和碱差限制其测量范围。一些新型的金属氧化物制备的电极界面对溶液中的一有响应能力，

完全吸收太赫兹波的纳米金薄膜结构

研究发现，纳米结构金薄膜在基质／空气界面几乎能抑制频率在0．2～2．2THz间的反射。目前为止，零反射仅在几个特殊频段利用传统方法来实现，以前利用超薄金属膜抑制电磁波反射要比传统介电消反射涂层的波段宽很多，而且该波段受限于金属膜与频率有关的特性。

材料

0203897材料电磁参数测量误差传递流程图分析法[刊]/田步宇//西安电子科技大学学报.—2001,28(5).—569～572,583(K)介绍了一种分析材料电磁参数测量不确定度的新方法——误差传递流程图分析法,该方法根据所用测量技术的物理模型与数学模型,找出切合实际的误差传递关系,建立误差流程图,据此编程计算,求得各种误差因素引起的定量结果以及综合误差。利用此方法分析了多端口材料电磁参数测试系统的测量不确定度,得到了一些重要结论。结果表明,对于复杂测试系统,该方法十分有效。参80203898梯度功能材料研究进展[刊]/王慧//河北工业科技.—2001,18(5).—44～48(K)

磁性材料、超导材料和器件

O481,O511 2007010185正常金属/自旋三重态p波超导体结隧道谱的奇异性/李晓薇,刘淑静(淮阴师范学院物理系)//物理学报.―2006,55(2).―834～838.利用Blonder,Tinkham和Klapwijk理论计算了正常金属/绝缘层/正常金属/自旋三重态的p波超导体结的隧道谱和平均电流。计算结果表明:在自旋三重态p波超导结的隧道谱中存在零偏压电导峰、零偏压电导凹陷和双凹陷结构,并有微分电导随偏压震荡的现象出现,在I-V曲线上出现电流台阶。这些结果在理论上支持Sr2RuO4的超导态是自旋三重态p波超导态。