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电子膨胀阀线圈失效研究
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作者 胡煜刚 胡盛文 +1 位作者 韦贝贝 于磊 《家电科技》 2020年第4期117-119,共3页
为研究电子膨胀阀线圈在低温工况下失效的原因,剖析了电子膨胀阀线圈注塑工艺、绕线结构、环境工况及其绝缘层壁厚等之间的关系,发现线圈绝缘层因热胀冷缩引起绝缘层开裂,冷凝水进入线圈细微的裂缝,使线圈的绝缘性能降低,导致线圈失效。
关键词 电子膨胀阀线圈 低温失效 绝缘层壁厚 绕线变形 线圈注塑
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