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XCY—2型线宽测量仪
1
作者
薛实福
李庆祥
《LSI制造与测试》
1996年第6期29-32,共4页
关键词
线宽测量仪
集成电路
光刻掩模
下载PDF
职称材料
扫描式线宽测量仪
2
作者
鞠同忠
杨甬英
龚予吉
《光学技术》
CAS
CSCD
1992年第6期2-5,8,共5页
本文所研究的扫描式线宽测量仪是一种带光度测量的非接触式测量精密线宽的显微镜,可以对微小尺寸上反映出来的光度变化通过光电转换变成电信号经A/D输入计算机进行数据处理,并且将处理结果以距离——强度形式显示出来,测量精度可达1.3μm。
关键词
扫描式
线宽测量仪
显微镜
下载PDF
职称材料
题名
XCY—2型线宽测量仪
1
作者
薛实福
李庆祥
机构
清华大学精密仪器与机械学系
出处
《LSI制造与测试》
1996年第6期29-32,共4页
关键词
线宽测量仪
集成电路
光刻掩模
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
扫描式线宽测量仪
2
作者
鞠同忠
杨甬英
龚予吉
机构
浙江大学光仪系
出处
《光学技术》
CAS
CSCD
1992年第6期2-5,8,共5页
文摘
本文所研究的扫描式线宽测量仪是一种带光度测量的非接触式测量精密线宽的显微镜,可以对微小尺寸上反映出来的光度变化通过光电转换变成电信号经A/D输入计算机进行数据处理,并且将处理结果以距离——强度形式显示出来,测量精度可达1.3μm。
关键词
扫描式
线宽测量仪
显微镜
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
XCY—2型线宽测量仪
薛实福
李庆祥
《LSI制造与测试》
1996
0
下载PDF
职称材料
2
扫描式线宽测量仪
鞠同忠
杨甬英
龚予吉
《光学技术》
CAS
CSCD
1992
0
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职称材料
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